ぷらずまはっこうぶんこうほうの英語

レーザ誘起プラズマ発光分析による木材密度の測定方法例文帳に追加

METHOD OF MEASURING WOOD DENSITY BY LASER INDUCED PLASMA EMISSION ANALYSIS - 特許庁

プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法、ガス発生装置及びガス発生方法、並びに、フッ素含有高分子廃棄物処理方法例文帳に追加

PLASMA PROCESSING APPARATUS AND METHOD, GAS GENERATING DEVICE AND METHOD, AND FLUORINE-CONTAINED POLYMER WASTE DISPOSAL METHOD - 特許庁

プラズマからの発光を分光せず検出するため、プラズマからの発光強度に強く依存するプラズマ密度を、分光を行なって制御する従来の方法と比べ、高いＳＮ比を確保して制御することが可能となる。例文帳に追加

Since the light emission from the plasma is detected without spectroscoping, the plasma density strongly depending on the intensity of the light emission from the plasma is controlled by ensuring a high S/N more than prior arts for controlling the plasma density through the spectroscoping. - 特許庁

砒素を含む溶液の高分析精度、高信頼性の高周波誘導結合プラズマ発光分光分析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a high-frequency inductively coupled plasma emission spectrometric analysis method of high analytical accuracy and high reliability for arsenic-containing solutions. - 特許庁

プラズマ発光強度の変動が、既知の発光分析技法を用いてモニタリングされる。例文帳に追加

A known optical emission spectrometry technique is used to monitor variations in plasma emission intensity. - 特許庁

プラズマ発生部１０で発生しプラズマ分離部２０に進入したプラズマは、斜め磁場発生コイル２３の磁場により進行方向が曲げられ、プラズマ輸送部４０を介して成膜チャンバ５０内に入る。例文帳に追加

The travel direction of a plasma generated in a plasma generation part 10 and allowed to enter in a plasma separation part 20 is bent by a magnetic field of a gradient magnetic field generation coil 23, and the plasma enters in a film deposition chamber 50 through a plasma transport part 40. - 特許庁

静電容量型分布放電によりプラズマを発生させる方法、及びそのような方法を実行する装置例文帳に追加

METHOD OF GENERATING PLASMA WITH ELECTROSTATIC CAPACITY DISTRIBUTION DISCHARGE AND DEVICE TO PERFORM SUCH METHOD - 特許庁

プラズマ発生部１０においてアーク放電にともなって発生したプラズマは、プラズマ分離部２０において斜め磁場により進行方向が曲げられ、パーティクルトラップ３０に直進するパーティクルと分離される。例文帳に追加

Regarding plasma generated with arc discharge in a plasma generation part 10, its progression direction is bent by an oblique magnetic field in a plasma separation part 20, and the plasma is separated from particles rectilinearily progressing to a particle trap 30. - 特許庁