EMISSION SPECTROSCOPIC ANALYSISとは 意味・読み方・使い方

To provide an apparatus and a method for emission spectroscopic analysis capable of enhancing analyzing accuracy, while enabling analysis of an element which has an emission line in the low-wavelength region.例文帳に追加

低波長域に発光線を有する元素の分析を可能としつつ、分析精度の高精度化が可能な発光分光分析装置及び発光分光分析方法を提供する。 - 特許庁

To attain precise analysis in a method for laser emission spectrochemical analysis of exciting molten metal by emitting a laser beam thereto, while introducing gas into the molten metal, to generate light, and of analyzing the light by spectroscopic analysis.例文帳に追加

溶融金属にガスを導入しながらレーザを照射することで溶融金属を励起して光を生じさせ、この光を分光分析するレーザ発光分光分析法において、精度の良い分析が行われるようにする。 - 特許庁

When emission spectrum analysis is required, spectroscopic operation is conducted, by the spectroscope 2 inserting a light emitting image from the semiconductor device S into the spectral position, to obtain the generated emission spectrum image by the imaging camera 3.例文帳に追加

そして、発光スペクトル解析が必要な場合に、半導体デバイスＳからの発光像を分光位置に挿入した分光器２によって分光して、生成された発光スペクトル像を撮像カメラ３で取得する。 - 特許庁

To provide an ICP emission spectroscopic analyzer capable of very accurate analysis of nonmetallic elements such as S, P, As, Se and Sb as well as metallic elements such as Fe, Mn, Cu, Ni and Cr contained in a metal.例文帳に追加

金属中に含まれるＦｅ、Ｍｎ、Ｃｕ、Ｎｉ、Ｃｒなどの金属元素は勿論のこと、Ｓ、Ｐ、Ａｓ、Ｓｅ、Ｓｂなどの非金属元素についても精度よく分析することができるＩＣＰ発光分光分析装置を提供すること。 - 特許庁

In this laminate including at least a pair of mutually contacting layers, a detection peak of 0.01 to 0.7 μm in terms of a full width at a half maximum, with regard to a depth in which an interface region of the mutually contacting layers is recognized when an element quantitative analysis in the depth direction by a glow discharge emission spectroscopic analysis process is performed.例文帳に追加

少なくとも１対の相接する層を有する積層体であって、グロー放電発光分光分析法による深さ方向の元素定量分析において、前記相接する層の界面領域が存在する深さに、半値全幅０．０１〜０．７μｍの検出ピークが認められる積層体。 - 特許庁

To provide an emission spectroscopic analyzer capable of ensuring the enhancement and long-term stability of analyzing accuracy, while enabling the analysis of an element having an emission line in a low wavelength region by preventing the contamination of a condensing lens and the interior of a passage caused by an oil component, and suppressing generation of impurity gases.例文帳に追加

油分による集光レンズ及び通路内の汚染を防止し、さらに不純物ガスの発生を抑制することにより、低波長域に発光線を有する元素の分析を可能としつつ、分析精度の高精度化及び長期安定性を確保できる発光分光分析装置を提供する。 - 特許庁

For analyzing the isotope percentage in the reaction product in etching the quadrupole mass analyzer is used here, but a similar analysis can be made by the spectroscopic analysis of the emission of the reaction product in a plasma.例文帳に追加

この膜をエッチングする工程において、反応生成ガスの同位体比率を四重極質量分析等の質量分析法、あるいはプラズマ発光分光法により測定することで、反応生成物中の同位体発生比率を処理中に逐次観測でき、実際にどの位置までエッチングが進んでいるのかを知ることができる。 - 特許庁

Soil 10 is allowed to adhere onto the surface of a hard body 1 where fine hollows or holes 2 are bored, and the soil 10 is irradiated with carbon dioxide pulse laser light 4 having a beam diameter over the fine hollows or holes 2, to thereby induce plasma emission 6, and a pollutant 11 in the soil 10 is measured by the spectroscopic analysis of the plasma emission 6.例文帳に追加

微細な窪み又は孔２が穿たれた硬質体１の表面に土壌10を付着させ、その微細な窪み又は孔２に跨るビーム径の炭酸ガスパルスレーザー光４を土壌10に照射してプラズマ発光６を誘起させ、そのプラズマ発光６の分光分析により土壌10中の汚染物質11を測定する。 - 特許庁