デバイスシミュレータの英語

プロセスシミュレータ、プロセスシミュレーション方法、デバイスシミュレータおよびデバイスシミュレーション方法例文帳に追加

PROCESS SIMULATOR, PROCESS SIMULATION, DEVICE SIMULATOR, AND DEVICE SIMULATION - 特許庁

イオン照射効果評価方法、プロセスシミュレータ及びデバイスシミュレータに関し、イオン照射にともなって基板を構成する原子が受ける影響を精度良く評価する。例文帳に追加

To evaluate with higher accuracy the influence on atoms forming a substrate due to irradiation of ion in regard to ion radiation effect evaluation method, process simulator, and device simulator. - 特許庁

電子デバイスシミュレータは、３次元ランプデバイスモデルと、３次元粘弾性プロセスシミュレーションモデルと、互いに相互接続される材料設計モデルとを含んでいる。例文帳に追加

An electronic device simulator comprises: a three-dimensional ramp device model; a three-dimensional viscoelasticity process simulation model; and a mutually connected material design model. - 特許庁

デバイスシミュレータ２２は、デバイスシミュレーションを実行してソース・ドレイン間電圧が０Ｖでない場合におけるゲート・ドレイン間容量（Ｃ−Ｖ特性５）を算出する。例文帳に追加

A device simulator 22 executes device simulation to calculate gate-drain capacitance (C-V characteristic 5) when source-drain voltage is not 0 V. - 特許庁

複合機６００の特定の機能処理を制御する制御装置と通信可能なクライアントＰＣ１００は、マウス１０９により入力される特定の操作情報を構築されるデバイスシミュレータ１０５で実行させる。例文帳に追加

A client PC100 which can communicate with a control device which controls the specific function processing of a composite machine 600 makes a constructed device simulator 105 execute specific operation information input by a mouse 109. - 特許庁

半導体装置の評価方法及び半導体装置の製造方法に関し、デバイスシミュレータを用いて各寄生抵抗成分を、互いに分離して正確に評価する手法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of precisely estimating parasitic resistor components by isolating the parasitic resistor components from each other using a device simulator. - 特許庁

デバイスシミュレータ５は、配線の断面形状ファイル１と、材料データ・ファイル２とから配線各部の抵抗と容量を求め、ライブラリ６に記録する。例文帳に追加

The resistance and capacitance of the parts of a wiring are obtained through a device simulator 5 depending on a wiring cross sectional shape file 1 and a material data file 2 and stored in a library 6. - 特許庁

本発明は、半導体素子の電気特性を予測する際に計算次元依存性を最小限にとどめて複数の計算次元を取り扱える半導体デバイスシミュレータおよび半導体デバイスシミュレーション方法を提供することを課題とする。例文帳に追加

To provide a semiconductor device simulator, which restricts calculation dimension dependence to a minimum, when the electrical characteristics of a semiconductor element are forecast and can handle a plurality of calculation dimensions, and a semiconductor device simulation method. - 特許庁