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並列試験の英語
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英訳・英語 parallel testing
「並列試験」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 80件
集積回路の並列試験例文帳に追加
PARALLEL TESTING FOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
半導体試験装置の並列処理方法及び半導体試験装置例文帳に追加
PARALLEL PROCESSING METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE - 特許庁
並列試験システム全体の構成を小型にし、当該並列試験システムの拡張性を高める。例文帳に追加
To enhance expandability of a parallel testing system by miniaturizing its entire configuration. - 特許庁
並列プロセッサ間通信の試験方法及びプログラム例文帳に追加
TEST METHOD AND PROGRAM OF COMMUNICATION BETWEEN PARALLEL PROCESSOR - 特許庁
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「並列試験」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 80件
集積回路素子の並列試験装置及び方法例文帳に追加
APPARATUS AND METHOD FOR PERFORMING PARALLEL TEST ON INTEGRATED CIRCUIT DEVICES - 特許庁
パーソナルコンピュータ1は、並列試験プログラムP−1〜P−Nを生成して並列試験装置2−1〜2−Nにそれぞれ送信した後、試験開始信号C−1〜C−Nを並列試験装置2−1〜2−Nにそれぞれ送信する。例文帳に追加
A personal computer 1 generates parallel testing programs P-1 to P-N for transmitting to parallel testing devices 2-1 to 2-N, and then transmits test start signals C-1 to C-N to the parallel testing devices 2-1 to 2-N. - 特許庁
タイヤ試験機において、1つの試験機でユニフォミティ測定と動バランス測定とを並列して行って試験効率を一層向上させる。例文帳に追加
To further improve testing efficiency by performing uniformity measurement and dynamic balance measurement in parallel by one tester, as a tire tester. - 特許庁
装置内連続試験プログラム並列実行手段23、装置間試験プログラム並列実行手段24、及び試験プログラム手操作並列実行手段25はそれぞれ必要な起動情報とともに試験装置群4の各装置に格納された試験プログラムに起動を渡す。例文帳に追加
An inter-device test program parallel execution means 24 and a test program manual operation parallel execution means 25 respectively leave start for the test program stored in each device of the test device group 4 together with the required start information. - 特許庁
多数の被試験素子を並列に検査するテストシステム及びテスト方法例文帳に追加
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING MANY DEVICES UNDER TEST IN PARALLEL - 特許庁
アプリケーション性能試験のための並列作業負荷シミュレーション例文帳に追加
PARALLEL WORK LOAD SIMULATION FOR APPLICATION PERFORMANCE TEST - 特許庁
メモリ試験装置10は、複数の被試験メモリD1〜D32に試験信号を書き込むとともに複数の被試験メモリD1〜D32に書き込まれた信号を読み出して、複数の被試験メモリD1〜D32の試験を並列して行う。例文帳に追加
The memory test device 10 writes a test signal to a plurality of memories to be tested D1 to D32; while it reads signals written in the plurality of memories to be tested D1 to D32 and tests the plurality of memories to be tested D1 to D32 in parallel. - 特許庁
これに応答して、並列試験装置2−1〜2−Nはそれぞれ、並列試験プログラムP−1〜P−Nを実行して、計測用装置3−1〜3−Nを用いてDUT4に対する試験処理を行う。例文帳に追加
In response to it, the parallel testing devices 2-1 to 2-N execute the parallel testing programs P-1 to P-N and perform testing processing to a DUT 4 by measuring devices 3-1 to 3-N. - 特許庁
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