個別試験の英語

個別ダイと試験プローブとを接触させて試験を実施するために、各個別ダイを試験プローブに相対させるよう、得られたマップを用いて保持トレイを操作する。例文帳に追加

The holding tray is operated using an obtained map to align each individual die, with respect to a test probe, in order to execute testing, by bringing the individual die into contact with the test probe. - 特許庁

試験波形印加回路が、各々のＤＵＴへ共通な試験パターン波形を印加する場合と個別の試験パターン波形を印加する場合とで印加タイミングのずれがなく、回路規模を縮小した半導体試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor testing apparatus whose timing of application of a test pattern waveform common to each DUT by a test waveform application circuit is not different from those of individual test pattern waveforms, and whose circuit scale has been reduced. - 特許庁

並列に試験される被試験メモリ毎に良否判定を省略する箇所を個別に設定可能とすることで、試験時間の短縮を図ることができるメモリ試験装置及び方法を提供する。例文帳に追加

To provide a memory test device and a memory test method which enable parts where quality decision can be omitted to be set individually for each memory to be tested in parallel and thereby shortening the test time. - 特許庁

半導体メモリデバイスに不要な個別パターンを書き込むことを防ぎ、効率よく試験を行う試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a testing device for performing an efficient test by preventing writing of an individual pattern unnecessary for a semiconductor memory device. - 特許庁

簡単な構成で試験時に各相を個別に接地することができる試験用接地装置を得ることを目的とする。例文帳に追加

To obtain an earth device for testing capable of individually earth each phase in testing by a simple constitution. - 特許庁

一定のシールされた様式で複数の試験片を個別に受容することに適合している一定の試験片容器を提供する。例文帳に追加

To provide a prescribed examination piece container suitable for accepting a plurality of the individual pieces in a prescribed sealing form. - 特許庁

ＡＰＤの個別調整を省略できるとともに、より微弱な試験光の戻り光を検出することができる光パルス試験器を提供する。例文帳に追加

To provide an optical pulse tester capable of omitting individual adjustment of an APD and detecting return light of weaker test light. - 特許庁

この半導体試験装置１は、パターン発生部１１で発生した試験パターンＰ１を一時的に記憶し、被試験デバイス２０ａ〜２０ｄの個別の試験状況に応じて、記憶した試験パターンを読み出して被試験デバイス２０ａ〜２０ｄの試験に用いる試験パターンとして出力する補助パターン発生部１２ａ〜１２ｄを備えている。例文帳に追加

The semiconductor testing apparatus 1 has auxiliary pattern generating sections 12a-12d for temporarily storing the test pattern P1 generated by the pattern generation section 11, reading the stored test pattern according to individual test states of the devices to be tested 20a-20d, and outputting it as a test pattern used for the test of the devices to be tested 20a-20d. - 特許庁