偶奇検査の英語

コンタクトプローブ上で複数の電極パターンを偶数番目のグループと奇数番目のグループとに分けて、検査用電圧を印加することにより、検査する端子の数を見掛上減らすことができ、検査の時間を短縮させる。例文帳に追加

To apparently reduce the number of terminals to be inspected and to shorten a time for inspection by dividing a plurality of electrode patterns into even-numbered groups and odd-numbered groups on contact probes and applying a voltage for the inspection respectively thereto. - 特許庁

偶数番目もしくは奇数番目のいずれかの透明電極に検査電圧を印加して短絡の有無を検査するにあたって、偶数番目同士もしくは奇数番目同士の透明電極間の短絡の有無をも容易にチェック可能とする。例文帳に追加

To make it possible to easily check the presence or absence of a shorting between the transparent electrodes of even-number-th or odd-number-th when inspecting the presence or absence of a shorting by impressing inspection voltage to the transparent electrode of any of even number-th or odd-number-th. - 特許庁

この伝送に、検査モードと通常モードでは異なる通信レートにすること、パリティ信号を、検査モードと通常モードの一方を奇数パリティとし、他方を偶数パリティとすることを含む。例文帳に追加

In this transmission, the communication rate in the normal mode is different from that in a test mode, and parity signals in the normal mode and the test mode adopt odd parity in one of the two, and even parity in the other. - 特許庁

検査信号は、ゲート線を駆動するためにシフトレジスタに供給する実際の信号と同様な信号であり、シフトレジスタの最初の段に供給する垂直同期開始信号、奇数段及び偶数段にそれぞれ供給する２つのクロック、及び全ての段に供給するゲートオフ信号である。例文帳に追加

The inspection signal is a signal similar to an actual signal supplied to the shift register to drive a gate line, and a vertical synchronism start signal supplied to the starting stage of the shift register, two clocks supplied to odd-numbered stages and even-numbered stages, and a gate-OFF signal supplied to all the stages. - 特許庁

液晶パネルの構成としてＲＧＢの各ソース線２３を１本おきに交互に、ソース線２３に交差する第１、第２ライン２６１，２６２の位置で絶縁皮膜することにより偶奇２相千鳥配列の検査用パッド２７を形成する。例文帳に追加

Inspection pads 27 in an even-odd double-phase staggered arrangement are formed by disposing insulating films at positions of first and second lines 261, 262 intersecting source lines 23, alternately on every other lines of RGB source lines 23, as the configuration of a liquid crystal panel. - 特許庁

また、絶縁膜の下層側に全ての奇数本目のコモン電極９と電気的に接続されたコモン電極検査用導電部２５Ａが形成され、絶縁膜１０の上層側に全ての偶数本目のコモン電極９と電気的に接続されたコモン電極検査用導電部２５Ｂが形成されている。例文帳に追加

A conductive part 25A for inspection of the common electrodes is formed on the lower layer side of the insulating film and electrically connected to all the common electrodes 9 of odd numbers, while a conductive part 25B for inspection of the common electrodes is formed on the upper layer side of the insulating film 10 and electrically connected to all the common electrodes 9 of even numbers. - 特許庁