円柱状試料の英語

流体試料と球２０を封入する円柱状の試料容器１０を備えた試験槽１をモータ６により回転させる。例文帳に追加

A test vessel 1 equipped with a cylindrical sample container 10 enclosing the fluid sample and a ball 20 is rotated by a motor 6. - 特許庁

つぎに、試料容器に試料トナーを投入して円柱状部材を粉体相中に埋没させ、該トナー粉体相を加圧して圧密化し、この状態のまま上記と同じ要領で円柱状部材を移動させ、このとき円柱状部材に発生する力Ｆｐを測定する。例文帳に追加

Then, the sample toner is fed into the sample container to lay the cylindrical member under a powder phase; the toner powder phase is pressurized to be consolidated; the cylindrical member is moved under this condition by the same manner hereinbefore; and force Fp generated in the cylindrical member is then measured. - 特許庁

グロー放電を利用した円柱状又は棒状の試料の側面の掘削を可能とする試料掘削方法、及び試料掘削装置を提供する。例文帳に追加

To provide a sample excavating method which enables the excavation of the side surface of a columnar or rod-shaped sample by utilizing glow discharge, and to provide a sample excavating apparatus. - 特許庁

試料台５０上のエッジ部には、軸Ｏに平行な方向に一部切断した円柱状の穴５１Ａ，５１Ｂが開けられている。例文帳に追加

The sample block has pillar-like holes 51A, 51B along an edge part of a sample block 50 with partially cut parts in the direction parallel to an axis O. - 特許庁

粉体の流動性を、試料粉体相中に長い円柱状部材を設け、該粉体相または円柱状部材を移動させ、そのときに円柱状部材に発生する力を測定することにより少なくとも該粉体の流動性を評価することを特徴とする粉体の評価方法。例文帳に追加

In a powder evaluation method, a long columnar member is provided in a sample powder phase, and the force produced in the columnar member is measured when the powder phase or the columnar member is moved to evaluate at least the flowability of powder. - 特許庁

アルゴンガス（不活性ガス）が供給される試料室（処理室）３内で、グロー放電管１が備える電極に対して、棒材等の円柱状の試料Ｓの側面を対向配置する。例文帳に追加

The side surface of the columnar sample S such as a rod material or the like is arranged in a counter relation to the electrode installed in a glow discharge tube 1 in a sample chamber (treatment chamber) 3 into which an argon gas (inert gas) is supplied. - 特許庁

円柱状の試料Ｓの側面が軸対称に掘削され、グロー放電発光分析による成分分析が可能となり、清浄に形成した試料Ｓの側面をＳＥＭ等で観察することも可能となる。例文帳に追加

The side surface of the columnar sample S is axisymmetrically excavated and the analysis of a component due to glow discharge emission analysis becomes possible and the side surface of the cleanly formed sample S can be observed by SEM or the like. - 特許庁