平行分析の英語

上記アレイが、表面に垂直な第１軸に沿って受け取られた放射線を分析する第１の作動上の配置と、表面に平行な第２軸に沿って受け取られた放射線を分析する第２の作動上の配置と、を有する。例文帳に追加

The array has the first operative configuration for analyzing the radiation received along the first axis perpendicular to the surface, and the second operative configuration for analyzing the radiation received along the second axis in parallel to the surface. - 特許庁

表示処理部３６は、クラスタリング処理部３０による複数の分析項目毎の分類結果を各分析項目の軸にプロットして折れ線とした平行座標グラフに、各分割軸を並べて分割数と分類結果のつながりを同時に折れ線で表示する。例文帳に追加

A display data processor 36 of the data mining system plots out classified results for each analytical item, which are derived by a clustering processing unit 30, on each analytical item graph axis that is parallel coordinates with a broken line and displays concurrently the broken line for a correlation between the classified results and partitioning numbers. - 特許庁

入射するイオンビームと平行な磁場を発生させることにより高分解能な試料の分析を可能とするイオン散乱分析装置において，上記イオンビームの入射により上記試料の表面に生成される２次電子を正確に検出可能な２次電子検出器を備えるイオン散乱分析装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a scattered ion analyzer making it possible to analyze a sample with high resolution by generating a magnetic field parallel with an incident ion beam and equipped with a secondary electron detector capable of exactly detecting secondary electrons produced on the surface of the sample by incidence of the ion beam. - 特許庁

平行磁場型ラザフォード後方散乱分析装置，それを用いた散乱イオンのエネルギースペクトル測定方法，それを用いた試料の結晶軸検出方法例文帳に追加

PARALLEL MAGNETIC FIELD TYPE RUTHERFORD BACK SCATTERING ANALYZER, ENERGY SPECTRUM MEASURING METHOD FOR SCATTERED ION USING IT AND CRYSTAL AXIS DETECTING METHOD FOR SAMPLE USING IT - 特許庁

再構成データ処理装置１は、狭帯域平行四辺形フィルタである分析フィルタ１１及びダウンサンプリング部１２を有する再投影部１０と逆投影部２０とを備える。例文帳に追加

A reconstitution data processor 1 is equipped with the reprojection section 10 having an analyzing filter 11 which is a narrow band parallelogram filter and a down sampling section 12 and a reverse projection section 20. - 特許庁

装置は既知の血液媒介性病原および抗体などの臨床的に関連する数多くの分析物の平行スクリーニングを実施するために使用される。例文帳に追加

The device is used for executing parallel screening of a number of objects to be analyzed clinically associated with such as a known bloodborne pathogen and an antibody. - 特許庁

質量分析器126の下流配置されたビーム走査システム128によってイオンビームが走査され、このビーム走査システム128の下流に配置されたパラライザー130によって平行化される。例文帳に追加

An ion beam is scanned by a beam scanning system 128 arranged in a downstream of the mass spectrograph 126 and is parallelized by a parallelizer 130 arranged in a downstream of the beam scanning system 128. - 特許庁

数百の形態学的に制御された腫瘍標本の分子的特徴の迅速な平行分析を可能にするような方法で、最小の組織要求量で組織標本の大規模分子プロファイリングを実施する。例文帳に追加

To provide a method of conducting rapid parallel analysis of molecular characteristics of hundreds of tumor specimens, which are morphologically controlled, capable of performing large-scale molecular profiling of tissue specimens with a minimum tissue requirement. - 特許庁