探針電極の英語

誘電体記録再生ヘッド１は、探針１１と、探針１１から印加された電界の高周波成分が戻るリターン電極１２と、リターン電極１２の下方に設けられたバイアス電極１３ａ、１３ｂ、１４ａ、１４ｂとを備える。例文帳に追加

The dielectric recording and reproducing head 1 is provided with a probe 11, a return electrode 12 to which the high-frequency component of the electric field impressed from the probe 11 returns and bias electrodes 13a, 13b, 14a and 14b which are disposed below the return electrode 12. - 特許庁

探針と試料を介して配置される電極と、探針と電極間に電圧を印加して探針と電極間の試料に流れる電流を検出する測定装置を有するプローブ顕微鏡において、試料内における所望の二点間に電圧を印加することにより、発生するマイグレーションを検知して絶縁不良を判定するプローブ顕微鏡にある。例文帳に追加

In this probe microscope having a probe, an electrode arranged through a sample and a measuring instrument which applies voltage across the probe and the electrode to detect the current flowing to the sample between the probe and the electrode, voltage is applied across two desired points in the sample to detect the produced migration to thereby determine the insulating failure. - 特許庁

走査型電子顕微鏡で観察しながら、探針移動制御回路１８による制御で、探針移動機構１４、１５、１６、１７により、鋭利な先端を有する複数の探針１、２、３、４を、それぞれ試料電極５、６、７、８に接触電流が飽和するまで接近させ、確実に接触させる。例文帳に追加

While observing with a scanning electron microscope, a plurality of probes 1, 2, 3 and 4 each having a sharp tip are made to approach sample electrodes 5, 6, 7 and 8, respectively, and made to come into contact with them completely until a contact current saturates by the use of probe moving mechanisms 14, 15, 16 and 17 under the control of a probe movement control circuit 18. - 特許庁

走査型電子顕微鏡で観察しながら、探針移動制御回路１８による制御で、探針移動機構１４、１５、１６、１７により、鋭利な先端を有する複数の探針１、２、３、４を、それぞれ試料電極５、６、７、８に接触電流が飽和するまで接近させ、確実に接触させる。例文帳に追加

A plurality of point probes having sharp tips 1, 2, 3 and 4 access sample electrodes 5, 6, 7 and 8 respectively until contact currents saturate and contact with them securely, while observing through a scanning electron microscope, by the control of a point probe moving control circuit 18 by using point probe moving mechanisms 14, 15, 16 and 17. - 特許庁

圧電素子３の電極１１、カンチレバー１間に印加される交流電圧はカンチレバー１の固有振動数にほぼ対応した振動数を有し、且つ、探針２と試料４間に原子間力が働く領域内に前記探針２が入るように該探針を振動させる振幅にコントロールされる。例文帳に追加

An AC voltage applied between an electrode 11 of a piezoelectric element 3 and a cantilever 1 has a frequency nearly corresponding to a characteristic frequency of the cantilever 1, while an amplitude of the AC voltage is controlled to vibrate a probe 2 such that the probe 2 comes into an area where the interatomic force acts between the probe 2 and a sample 4. - 特許庁

ＳＣＭに取り付けられる本発明に係るカンチレバーとして、当該カンチレバーは試料を走査する探針部１と当該探針部１を支持する電極部２とを有している。例文帳に追加

This cantilever has a probe part 1 for scanning a sample and an electrode part 2 for supporting the probe part 1 as the cantilever to be mounted on the SCM. - 特許庁

大気圧走査トンネル顕微鏡システムを用い、一方の電極としての探針２にはＰｔ／Ｉｒを用いる。例文帳に追加

An atmospheric pressure scanning tunnel microscope system is used, and Pt/Ir is used for a probe 2 as one electrode. - 特許庁

製品となるチップ領域に形成されている引き出し用電極２５ａに探針２８を接触させて電気的特性検査を行う。例文帳に追加

A probe 28 is made to contact an extraction electrode 25a formed in the chip region of a product for inspecting electric characteristics. - 特許庁