探針電極の英語

誘電体記録再生ヘッド１は、探針１１と、探針１１から印加された電界の高周波成分が戻るリターン電極１２と、リターン電極１２の下方に設けられたバイアス電極１３ａ、１３ｂ、１４ａ、１４ｂとを備える。例文帳に追加

The dielectric recording and reproducing head 1 is provided with a probe 11, a return electrode 12 to which the high-frequency component of the electric field impressed from the probe 11 returns and bias electrodes 13a, 13b, 14a and 14b which are disposed below the return electrode 12. - 特許庁

大気圧走査トンネル顕微鏡システムを用い、一方の電極としての探針２にはＰｔ／Ｉｒを用いる。例文帳に追加

An atmospheric pressure scanning tunnel microscope system is used, and Pt/Ir is used for a probe 2 as one electrode. - 特許庁

探針と試料を介して配置される電極と、探針と電極間に電圧を印加して探針と電極間の試料に流れる電流を検出する測定装置を有するプローブ顕微鏡において、試料内における所望の二点間に電圧を印加することにより、発生するマイグレーションを検知して絶縁不良を判定するプローブ顕微鏡にある。例文帳に追加

In this probe microscope having a probe, an electrode arranged through a sample and a measuring instrument which applies voltage across the probe and the electrode to detect the current flowing to the sample between the probe and the electrode, voltage is applied across two desired points in the sample to detect the produced migration to thereby determine the insulating failure. - 特許庁

コストを減らした工程により製造された、下部電極と導通し上部電極と絶縁された導電性探針を有するカンチレバーを提供する。例文帳に追加

To provide a cantilever with a conductive probe that allows a lower electrode to conduct electricity and is insulated from an upper electrode, and is manufactured by a process whose costs have been reduced. - 特許庁

この実施の形態においては、探針２の表面が導電性薄膜７で覆われ、導電性薄膜７は下部電極３と導通しているので、探針２の先端は、下部電極３の電位に保たれている。例文帳に追加

In the embodiment form, the surface of the probe 2 is covered with a conductive thin film 7 and the conductive thin film 7 allows the lower electrode 3 to conduct electricity, so that the tip of the probe 2 is maintained at the potential of the lower electrode 3. - 特許庁

ウェハチェック時に、チップの表面電極に対する探針４２の押し付け力の合計を、５０ｇｆ以下にする。例文帳に追加

The sum of the pressing forces of probe needles 42 applied to the surface electrode of a chip is limited to 50 gf or below when a wafer is checked. - 特許庁

抵抗部５、２つの抵抗検出用電極１，２、および、電気特性測定用の電極７が形成されたカンチレバー６の自由端に金属探針８を形成する。例文帳に追加

The metallic probe 8 is formed at a free end of a cantilever 6 where a resistance part 5, two electrodes 1 and 2 for detecting resistances and an electrode 7 for measuring electric characteristics are formed. - 特許庁

被測定電極の配置がランダムの場合の回路検査に使用することのできる２探針ケルビンプローブを提供する。例文帳に追加

To provide a two-probe Kelvin probe for being used for a circuit inspection in the case an electrode to be measured is arranged in a random order. - 特許庁