故障発生度の英語

詳細に故障原因を特定し、また将来的な故障発生の可能性及びその程度を予見すること。例文帳に追加

To specify causes of a failure in detail and to foresee the possibility and the degree of a future failure. - 特許庁

抵抗体経由短絡故障の発生を診断することができる温度センサ回路の故障診断装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a fault diagnosis device of a temperature sensor circuit for diagnosing the occurrence of short-circuiting faults via a resistor. - 特許庁

故障検出回路自身に発生する故障の検出精度を向上させることができるデータ処理装置及びその試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a data processor capable of improving the detection accuracy of a fault occurring in a fault detection circuit itself. - 特許庁

しかも、制御回路１２６は、複数の故障が同時に発生した場合、伝達の優先度が高い故障情報を優先して送信する。例文帳に追加

Also, when a plurality of faults simultaneously occur, the control circuit 126 preferentially transmits the fault information with high priority of transmission. - 特許庁

初期故障期に発生しうる故障をより高い精度でスクリーニングできる半導体ウェハの検査方法を提供することにある。例文帳に追加

To provide an inspection method of a semiconductor wafer which performs very accurate screening of failures that are likely to occur in an initial failure period. - 特許庁

素子に発生する強度故障の観点からテストパターンを評価することが可能な故障シミュレーション装置を提供する。例文帳に追加

To provide a failure simulation device with which a test pattern is evaluated from the viewpoint of a strength failure generated in an element. - 特許庁

車両に発生している可能性の高い故障パターンを、高い精度で推定することができる故障パターン推定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a failure pattern estimation method capable of estimating a failure pattern that is likely to occur in a vehicle, with high accuracy. - 特許庁

初期故障期に発生しうる故障をより高い精度でスクリーニングできる半導体ウェハの検査方法を提供することにある。例文帳に追加

To provide an inspection method of a semiconductor wafer which can make a very accurate screening of failures which are likely to occur in an initial failure period. - 特許庁