欠陥検出技術の英語

高いＳ／Ｎ比で回路パターンの欠陥を検出することができる技術を提供する。例文帳に追加

To provide a technology capable of detecting a circuit pattern defect at a high S/N ratio. - 特許庁

欠陥画素を精度良く検出することが可能な技術を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide technique capable of accurately detecting defective pixels. - 特許庁

チップサイズに依らず、欠陥起因の不良工程を検出することのできる技術を提供する。例文帳に追加

To provide a technology by which failure processes caused by a defect are detected regardless of chip sizes. - 特許庁

光ディスク装置において、正確に光ディスクの欠陥検出を行える技術を提供する。例文帳に追加

To provide technology for accurately detecting the defect of an optical disk in an optical disk device. - 特許庁

非欠陥の範囲を欠陥として報告することを最小にしながら、現在の検査技術を用いて、正確に検出するのが困難である関心の欠陥を検出し且つ見分ける。例文帳に追加

To provide an improved method of defect detection and reporting technique for detecting and differentiating defects of interest that are difficult to detect accurately, using current inspection techniques, while minimizing the reporting of non-defective areas reported as being defective. - 特許庁

外観検査を行う検査対象の表面形状によらず、高い精度で欠陥を検出する技術または欠陥の検出を支援する技術を提供する。例文帳に追加

To provide a technology for detecting defects with high accuracy, or a technology for supporting defect detection, regardless of a surface shape of an inspection object to be subjected to visual inspection. - 特許庁

半導体基板に形成されたパターンに存在する複数の欠陥を検出し、検出した複数の欠陥の中から所定数の欠陥を抽出した後、抽出した所定数の欠陥について外観検査を実施する工程において、検出した欠陥の発生状況を反映した代表的な欠陥を抽出することができる半導体装置の製造技術を提供する。例文帳に追加

To provide manufacturing technology of a semiconductor device, which can extract a representative defect that reflects an occurrence situation of a detected defect in a process for detecting a plurality of the defects existing in a pattern formed in a semiconductor substrate, extracting the prescribed number of the defects from a plurality of the detected defects and inspecting an appearance on the prescribed number of the extracted defects. - 特許庁

画像記録媒体に形成された画像の欠陥画素を高精度に検出すると共に、的確に欠陥画素を把握することができる画像欠陥検査技術を提供する。例文帳に追加

To provide an image defect detecting technique which enables the accurate detection of defect pixels of an image formed on a recording medium, and grasp of the defect pixels with precision. - 特許庁