渦電流試験の英語

渦電流探傷検査装置（１０）は、試験品（１２）用ホルダー（１６）、渦電流プローブ（２０）用ホルダー（２２）、及び作動的に結合する渦電流機器（３２）を含む。例文帳に追加

The eddy current inspection apparatus (10) includes a holder (16) for a specimen (12), a holder (22) for an eddy current probe (20), and an eddy current instrument (32) operatively joined thereto. - 特許庁

本発明は、一般に非破壊試験に関し、より具体的には、製造構成部品の渦電流探傷検査に関する。例文帳に追加

To conduct non-destructive testing in general, and more specifically, to conduct eddy current inspection of manufactured components. - 特許庁

磁性材の平板を検査する渦電流探傷試験装置の磁気ノイズを抑制し、ＥＣＴ信号のＳ／Ｎ比を改善する。例文帳に追加

To suppress magnetic noise of an eddy current flaw tester for inspecting a flat plate of magnetic material and to improve the S/N ratio of an ECT signal. - 特許庁

導電性材料からなる試験対象物における特に亀裂の渦電流表示を判定して評価する方法例文帳に追加

METHOD FOR DETERMINING AND EVALUATING DISPLAY OF EDDY CURRENT OF CRACK IN OBJECT TO BE TESTED COMPRISING CONDUCTIVE MATERIAL - 特許庁

演算制御部４０は、試験体２０Ａの平面に渦電流プローブ３を密着させるまでに発生する検出信号と試験体２０Ｂの曲面に渦電流プローブ３を密着させる際に発生する検出信号からリサージュ平面上にリフトオフ許容領域Ａを求める。例文帳に追加

An operation control part 40 finds out a lift-off allowable area A on a lissajous plane from a detection signal generated until an eddy current probe 3 is adhered closely to a plane of a test body 20A and a detection signal generated when adhering the eddy current probe 3 closely to a curved surface of a test body 20B. - 特許庁

プローブホルダー（２２）は、プローブを試験品（１２）の内部チャネル（１４）と整列するように選択的に移動させ、該内部チャネルに沿って試験品の渦電流探傷検査を実施する。例文帳に追加

The probe holder (22) is moved selectively to align the probe with an internal channel (14) of the specimen (12) for sliding movement therealong, to conduct eddy current inspection thereof. - 特許庁

また、被検査体に対して前記複数の試験周波数による渦電流探傷を実施して前記２つの異なる試験周波数間のＥＣＴ信号の位相差を算出する。例文帳に追加

Furthermore, the eddy current flaw detection due to a plurality of test frequencies is applied to an inspection target to calculate the phase difference of the ECT signal between two different test frequencies. - 特許庁

残存する肉厚が異なる複数のスリットを設けた対比試験体に対して複数の試験周波数による渦電流探傷を実施し、各スリットについての２つの異なる試験周波数間のＥＣＴ信号の位相差と残存する肉厚との相関を示す校正曲線群を得る。例文帳に追加

Eddy current flaw detection due to a plurality of test frequencies is applied to a relative test object, provided with a plurality of slits different in residual wall thickness to obtain a calibration curve group, showing the correlation of the phase difference of an ECT signal between two different test frequencies, with respect to the respective slits and the residual wall thickness. - 特許庁