物理テストの英語

物理的なテスト構造を形成せずに、ＳＯＩウエハの特性を決定する方法を提供。例文帳に追加

To provide a method of characterizing of an SOI wafer without forming any physical test structure. - 特許庁

救済処理後のメモリ対して、セルの物理的配置を考慮したテストパターン印加を行うこと。例文帳に追加

To apply a test pattern in which physical arrangement of a cell is adopted to a memory after relieving processing. - 特許庁

テスト基準情報と物理的な欠陥を有するテスト用ディスクを使用して記録及び再生装置の検定をしながら再初期化モードを行った後、生成された欠陥管理情報からテスト情報を生成する段階と、テスト基準情報と物理的な欠陥により予測された基準情報とテスト情報とを比較してテスト情報に関する検証結果を提供する段階とを含む。例文帳に追加

This method includes a step in which a reinitialization mode is performed while examining the recorder/player by using a disk for test having test reference information and a physical defect and test information is subsequently generated from generated defect management information, and a step in which reference information predicted form the test reference information and the physical defect is compared with the test information and verification results about the test information are provided. - 特許庁

複数の物理サーバを含む１つの物理サーバプールにおいて、仮想システムの運用系システムとテスト系システムとを容易に切り替え可能とする。例文帳に追加

To easily switch an operational system and test system of a virtual system in one physical server pool including a plurality of physical servers. - 特許庁

これにより、物理層ロジック回路３は、テスト用リンク層回路２２と接続され、ポート５、６はテスト用物理層ロジック回路２３と接続される。例文帳に追加

As a result of this constitution, the physical layer logic circuit 3 is connected to the a testing link layer circuit 22, and the boards 5, 6 are connected to the testing physical layer logic circuit 23. - 特許庁

半導体集積回路に内蔵する機能ブロックの単体テストのテスト回路設計において、物理階層間のテスト専用配線数を最小にする。例文帳に追加

To minimize wirings used exclusively to test between the physical layers, when designing a test circuit for a single unit of function blocks to be built, in an integrated semiconductor circuit. - 特許庁

テスト対象となる回路チップ１個ごとに判定端子複数本を割り当てる必要はなく、総判定端子数に物理的な制約を受けるテスターに備わった判定端子と同数のチップを一括して同時にテストし、テスト効率を向上し、かつテストコストを切り下げる。例文帳に追加

Allotting plural discrimination terminals for each circuit chip to be tested is not required, chips of the same number as the number of discrimination terminals provided in a tester restricted physically by the total number of discrimination terminals are collectively and simultaneously tested, testing efficiency is improved, and a testing cost is reduced. - 特許庁

空テストディスク上に周知の物理的な欠陥を生成することによって得られるテストディスク上に検証する初期化を行った後に生成される欠陥管理情報をテスト情報として生成する段階及び、検証する初期化についての基準テスト情報を使用して前記テスト情報を確認してテスト結果を提供する段階を含む。例文帳に追加

The method includes a step for generating deficiency management information, as testing information, generated after performing the initialization to be verified on a testing disk obtained by generating a well- known physical deficiency on an empty testing disk and a step for confirming the testing information by using reference testing information about the initialization to be verified to provide the test result. - 特許庁