発熱試験の英語

発熱手段は、被試験物の自己発熱に加えて、被試験物に対し熱を与えることで被試験物を所定の温度状態に上昇せしめる。例文帳に追加

In addition to the self-heat generation of the object to be tested, the heating means applies heat to the object to be tested to elevate the object to be tested up to the condition of a prescribed temperature. - 特許庁

生化学分析のための酵素反応を促進する発熱試験片例文帳に追加

EXOTHERMIC TEST SPECIMEN PROMOTING ENZYME REACTION FOR BIOCHEMICAL ANALYSIS - 特許庁

試験時に電子部品が自己発熱しても、電子部品の温度を正確に制御し、所望の試験温度にて電子部品を試験することができる電子部品試験装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an electronic component testing apparatus which can correctly control a temperature of an electronic part even when the electronic component generates heat by itself at a test time, and can test the electronic component at a desired test temperature. - 特許庁

また、被試験物と発熱手段とは熱伝導性物質を介して当接されてなる。例文帳に追加

The heating means is kept in contact with the test specimen through a heat conductive substance. - 特許庁

電源と線材コストを抑え、かつ試験サイクルの時間を短縮することができる断続通電試験装置、断続通電試験方法、および発熱電子デバイスを提供する。例文帳に追加

To provide an intermittent energization testing device, an intermittent energization testing method, and a heat generating electronic device, which can save power supply and a wire rod cost, and shorten time of a test cycle. - 特許庁

タイヤのドラム耐久試験方法において、試験部位の発熱を適切な範囲に保つことにより、評価時間を短縮しつつ、試験結果のバラツキも抑える評価が可能とする。例文帳に追加

To enable evaluation which suppresses variations of test results, while shortening the time for evaluation, by holding generation of heat of a part to be tested within the appropriate limits. - 特許庁

このため、試験中に、ガラス試料と発熱体を密着させて試験精度を確保するため、発熱体の弾性率を５０〜５００ＭＰａとし、ガラス試料が加熱後破壊するまでの時間を７秒以下にして試験する。例文帳に追加

Hence, in order to assure a testing accuracy by intimately contacting the glass sample with the heating element during the test, the elasticity of the heating element should be 50 to 500 MPa and the time required for the glass sample to break down after heating should be 7 seconds or less during the test. - 特許庁

試験時に電子部品が自己発熱しても、電子部品の温度を正確に制御し、所望の試験温度にて電子部品を試験することができ、しかも安価で耐久性に優れた電子部品試験装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an inexpensive and durable electronic part testing device for accurately controlling the temperature of an electronic part even when the electronic part self-heats at the time of test, and for testing the electronic part at a desired testing temperature. - 特許庁