真空テストの英語

テスト気体の存在は、電源から供給された真空ポンプへの電流の変化により検出される。例文帳に追加

The presence of the test gas is detected by the change in the current to the vacuum pump supplied from an electric power source. - 特許庁

テストされるトレース（８５）を収容する基板は、基板の各面上のトレース領域（８５）近くに横たわるグリッド電極（５１）を備える低圧力の真空チャンバ（１２）中に載置される。例文帳に追加

A substrate where a trace 85 to be tested is stored is placed in a vacuum chamber 12 of a low pressure having grid electrodes 51 laid near the trace region 85 on each face of the substrate. - 特許庁

ガイドブロック固定プレート７０は真空吸着器の下方に一定間隔離隔されると同時に、テストトレイ１１０の上方に一定間隔離隔配置される。例文帳に追加

The guide block fixing plate 70 is separated a predetermined interval below the vacuum sucker and separately arranged a predetermined interval above the test tray 110. - 特許庁

本体部６０と、該本体部と分離設置され真空吸着器に取付けられたデバイス１０９をテストトレイのそれぞれのポケットに正確に安着されるよう案内するガイドブロック固定プレート７０とを備える。例文帳に追加

The device loading device is provided with a body part 60 and a guide block fixing plate 70 installed separately from the body part and guiding devices 109 attached to a vacuum sucker so that they are accurately placed safely in each pocket of a test tray. - 特許庁

テスト装置では、真空ポンプによってソケットの下部及び／または上部でマルチ−スタックパッケージを下方及び／または上方に引き寄せるので、コンタクトボールによるマルチ−スタックパッケージの間の接触性不良を容易に確認することができる。例文帳に追加

In this testing device, since the multi-stack package is drawn downward and/or upward on a lower part and/or an upper part of the socket by a vacuum pump, contact failure with the multi-stack package caused by the contact ball can be confirmed easily. - 特許庁

この保持具は断面コ字状をしており、真空吸着等の手段によってウェハ２を載置したウェハトレイとテストカード（又はカード保持体）とを密着した周縁部に数個所、該保持具を横から挿入することによって装着する。例文帳に追加

The holder 7 is U-shaped in cross-section which is attached, by inserting sideways, to a peripheral part where the wafer tray on which a wafer 2 is placed is fitted tightly to the test card (or the card holder) by a means such as vacuum-chucking at several points. - 特許庁

テスタヘッド２０上にマザーボード１０を搭載し、このマザーボード１０にテスト対象のＬＳＩ１を搭載して排気管２３に接続した真空ポンプを作動させると、マザーボード１０がテスタヘッド２０に吸着されると共に、このマザーボード１０にＬＳＩ１が吸着される。例文帳に追加

When the mother board 10 is loaded on the tester head 20, and the test object LSI 1 is loaded on the mother board 10, and a vacuum pump connected to the discharge tube 23 is operated, the mother board 10 is adsorbed to the tester head 20, and the LSI 1 is adsorbed to the mother board 10. - 特許庁