被測定電場の英語

この際、被測定イオン種が電場の作用を１周期間受けた後、分離空間１７から出射されるように、加速電圧を設定する。例文帳に追加

In this case, the acceleration voltage is set so that ion species to be measured are emitted from the separation space 17 after receiving the action from the electric field for one cycle. - 特許庁

処理手段4は、検出された電場強度の時間波形を処理して被測定物7の情報を取得する。例文帳に追加

The processing means 4 processes the detected time waveform of the electric field intensity and acquires information of the measuring object 7. - 特許庁

可動鏡１０をずらしながら検出器１１にゲートをかけることで、被測定物２０の透過光の電場強度の時系列波形が計測される。例文帳に追加

While a movable mirror 10 is shifted, the detector 11 is gated to measure the time-series waveform of the electric field intensity of the transmitted light from the body 20 to be measured. - 特許庁

塗料が被塗物に塗布され、揮発成分が揮発する過程にて不揮発分率が９０〜１００質量％までの間のいずれかにおける電場ピックアップ法による表層粘度測定値が５００ｍＰａ・ｓ以上、３１００ｍＰａ・ｓ以下の範囲（好適範囲Ｓ）に含まれる。例文帳に追加

This coating is characterized in that the measured value of surface layer viscosity by the electric field pick-up method falls within the range of 500-3,100 mPa s (the preferable range S) at any point where the rate of non-volatile content becomes from 90 to 100 mass%, in the course that the volatile component is vaporized after the coating is applied onto the article to be applied. - 特許庁

第１の反射体１０の表面１ｓに接触された試料に対して測定光Ｌ１を照射することにより、光共振体内に生じる共振によって増強された第１の反射体１０の表面１ｓにおける電場を利用して、試料中に含まれる質量分析の被分析物質Ｓを脱離させる。例文帳に追加

A sample in contact with the surface 1s of the first reflector 10 is irradiated with measurement light L1, and an analyte S for mass spectrometry included in the sample is desorbed by utilizing an electric field on the surface 1s of the first reflector 10 intensified by resonance generated in the optical resonator. - 特許庁

本発明は、光照射により微細構造に励起される局在プラズモン現象の増強電場をもって、蛍光励起現象もしくはリカップリング散乱光を引き起こし、発光をモニタリングすることで、信号増強効果が大きく、低濃度の被測定物質であっても正確に定性・定量することができ、且つ、小型で、製造が容易で安価な局在プラズモン増強センサシステムを提供する。例文帳に追加

To provide an inexpensive, small-sized and easily-manufacturable localized plasmon enhancing sensor having a great signal enhancing effect, capable of measuring even a low-concentration material to be measured accurately and qualitatively/quantitatively, by causing a fluorescent excitation phenomenon or recoupling scattering light by an enhanced electric field of a localized plasmon phenomenon excited in a fine structure by light irradiation, and by monitoring light emission. - 特許庁