試料採取プローブの英語

次に、脱着可能な試料片プローブ7によって試料片15を採取し、試料片プローブ7を観察用試料ホルダ10に移載した後、試料処理室1からエアーロック機構を用いて観察用試料ホルダ10を抜き取ることによって、簡便かつ迅速な試料作成を行なう。例文帳に追加

The sample piece is collected by a removable sample piece probe 7, the sample piece probe 7 is mounted on an observation sample holder 10, then the observation sample holder 10 is extracted from a sample processing chamber 1 by an air lock mechanism, thereby the sample is generated simply and quickly. - 特許庁

次に、脱着可能な試料片プローブ7によって試料片15を採取し、試料片プローブ7を観察用試料ホルダ10に移載した後、試料処理室1からエアーロック機構を用いて観察用試料ホルダ10を抜き取ることによって、簡便かつ迅速な試料作成を行なう。例文帳に追加

Next, the sample piece 15 is collected by a detachable sample piece probe 7, and the sample piece probe 7 is moved to an observation-use sample holder 10, and then the observation-use sample holder 10 is taken out of the sample treatment chamber 1 by using an airlock mechanism, thereby preparing the sample simply and quickly. - 特許庁

採取成功率が高く、正確な分析値を得られる溶融金属試料採取プローブを提供する。例文帳に追加

To provide a probe for collecting molten metal samples with a high rate of collection success capable of obtaining accurate analysis values. - 特許庁

静電引力によってプローブ先端に薄片試料を引き寄せて採取、保持し、ＴＥＭ試料台に載置する際は逆電圧を与えることで両者の間に斥力を生じさせ、容易に試料をプローブから離脱させる。例文帳に追加

The thin section of test piece is pulled toward the tip of the probe for sampling and holding by electrostatic attraction, and reverse voltage is given between them when loaded on the TEM sample pedestal to generate repulsive force between them, so that the test piece are to be easily removed from the probe. - 特許庁

そして、保護膜４および保護膜４の下面にある薄膜試料２は、三次元アトムプローブを用いた解析を行なうために採取される対象である採取対象試料５とされ、アトムプローブ観察用の試料が作製される。例文帳に追加

Then, the protective film 4 and the thin-film sample 2 located on a lower surface of the protective film 4 are set to be samples 5 to be sampled that are to be sampled for performing an analysis using the three-dimensional atom probe, thus making the sample for atom probe observation. - 特許庁

金属溶湯への浸漬用耐熱保護紙管及び耐熱保護管、それを用いた溶湯測温プローブ、溶湯試料採取プローブ、溶湯酸素濃度測定プローブ例文帳に追加

HEAT-RESISTANT PROTECTION PAPER TUBE AND HEAT-RESISTANT PROTECTION TUBE DIPPED INTO MOLTEN METAL, MOLTEN METAL TEMPERATURE MEASURING PROBE USING THEM, MOLTEN METAL SAMPLE COLLECTION PROBE, AND MOLTEN METAL OXYGEN CONCENTRATION MEASURING PROBE - 特許庁

観測データを採取後は探針２を一旦試料表面から離し、次の観測点に移動させる走査型プローブ顕微鏡を提供する。例文帳に追加

A scanning probe microscope is provided where the probe 2 is temporarily separated from the sample surface after sampling the observation data, and is moved to a next observation point. - 特許庁

プローブの先端に発生させたポンプによる吸引力で容易に試料の採取が行うことができるマイクロマニピュレータを提供する。例文帳に追加

To provide a micromanipulator capable of collecting easily a sample with suction force by a pump generated in a tip of a probe. - 特許庁