試験アクセス時間の英語

アクセス試験に要する時間の短縮を可能にする。例文帳に追加

To reduce a time required for an access test. - 特許庁

半導体試験装置のシーケンス制御回路において、アクセス時間の速いメモリや高速素子を用いることなく高速動作を可能にする。例文帳に追加

To realize a high speed operation without using any memory whose access time is fast or any high speed element in the sequence control circuit of a semiconductor testing device. - 特許庁

通常のアクセス動作時における低消費電流動作を維持しながら、試験時において、試験時間を短縮することが可能な半導体記憶装置及び半導体記憶装置の制御方法を提供すること例文帳に追加

To provide a semiconductor memory device and a control method of a semiconductor memory device by which a testing time can be shortened at the time of a test, while keeping low current consumption operation at the time of normal access operation. - 特許庁

携帯電話２からインターネット４を介して学習サーバ３にアクセスし、学習コンテンツサイトから認定試験モードコンテンツのソフトウェアをダウンロードした後、学習サーバ３とのアクセスを切断して携帯電話２から認定試験モードの学習問題をある時間以内に実行する。例文帳に追加

After software of approved test mode contents are downloaded from a learning contents site by accessing a learning server 3 with a mobile telephone set 2 through the Internet 4, the access to the learning server 3 is quit and learning problems in an approved test mode are solved within a certain time by using the mobile telephone set 2. - 特許庁

通常モード時の測定結果から、試験モード時の測定結果を差し引くことにより、メモリマクロセル１０Ａ単体の正確なアクセス時間を算出することができる。例文帳に追加

An accurate access time of the memory macro-cell 10A can be calculated by subtracting a measured result at the time of a test mode from a measured result at the time of a normal mode. - 特許庁

メモリアレイ系へのアクセスデューティを上げるテストモードを複数搭載することで、最適なバーンインオペレーションを行い、工程バーンイン時間の短縮、選別試験時間の短縮を実現できる半導体記憶装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor memory that optimum burn-in operation is performed to realize shortening of a process burn-in time and a selection test time by providing plural test modes improving access duty for a memory array system. - 特許庁

アクセスポイント１は、無線端末２との間でＯＦＤＭにより無線通信を行い、ＯＦＤＭのガードインターバル時間に対する誤り率を測定するためのテストパタンデータの折り返し試験をガードインターバル時間に複数の候補値を設けて行う。例文帳に追加

An access point 1 performs radio communication with a radio terminal 2 by OFDM, and performs a return test of test pattern data for measuring an error rate for a guard interval time of the OFDM by providing a plurality of candidate values in the guard interval time. - 特許庁