試験データ利用度の英語

データの読み出しに同期してデータの受渡しに利用される基準クロックを出力する被試験デバイスを高精度に試験する半導体デバイス試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device test apparatus which performs a test on a device under test which outputs a reference clock for use in data delivery synchronously with data reading with high precision. - 特許庁

データの読み出しに同期してデータの受渡しに利用される基準クロックＤＱＳを出力する半導体デバイスを短時間に高精度に試験する試験方法を提案する。例文帳に追加

To provide a method for testing a semiconductor device capable of testing a semiconductor device outputting a reference clock DQS, used for data delivery, simultaneously to data reading, with high accuracy in a short period. - 特許庁

半導体集積回路試験装置のユーザがより高い自由度で試験結果データを利用することができると共に、当該利用に関するコストを低減する。例文帳に追加

To provide test result data with a high degree of freedom for a user of a semiconductor integrated circuit testing device and to reduce cost on the utilization. - 特許庁

また、測定装置３０は、試験結果となる各試験条件下での電界強度を、増幅器２０の出力レベルから算出するが、その換算データは、試験前に、供試機器４の設置場所に設置した電界強度測定器８を利用して、自動生成できる。例文帳に追加

Moreover, though the measuring apparatus 30 calculates the electric field strength under the test condition to be a test result from the output level of an amplifier 20, conversion data for it can be generated automatically, by using an electric field strength measuring appliance 8 installed at an installation place for the instrument 4, before a test. - 特許庁

低コストで、且つ、好適に試験試料の実際に利用される環境下での疲労強度特性データを取得することができる疲労試験機を提供することにある。例文帳に追加

To provide a fatigue tester capable of acquiring fatigue strength characteristic data at low cost under an environment actually and suitably used for a test sample. - 特許庁

はんだ試験片の作製方法で得られた金属組織と冷却速度のデータを蓄積利用することにより、新規のはんだ材料の開発が容易になった。例文帳に追加

A new solder material is easily developed by storing the data of metal structures and cooling rates that are obtained by a manufacturing method of solder test strips. - 特許庁