試験区域の英語

テスト回路基板の近傍に配置されたテスト補助装置に、データメモリと解析部を設け、データメモリに２つのメモリ区域を構成して、一方のメモリ区域でデジタル試験データの記憶が行われるときに、他方のメモリ区域ですでに記憶されたデジタル試験データの解析のための読み出しを行うようにする。例文帳に追加

A data memory and an analysis part are installed in a test auxiliary device arranged near a test circuit board, and two memory areas are constituted in the data memory, and, while digital test data are stored in one memory area, reading-out for analysis of the digital test data stored beforehand can be executed in the other memory area. - 特許庁

抗生物質のバイオバーデンもしくは無菌テスト用又は抗生物質製造区域における環境試験用の培地及びこのような培地を用いる方法を提供する。例文帳に追加

To provide a medium for a bioburden or sterility test of antibiotic substances or an environment test in an antibiotic substance production area and provide a method for using the medium. - 特許庁

試験区域の金属導線がエッチングの過程において破損しないよう、半導体基板上に端末バイア（terminal via) を形成する方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a method for forming a terminal via on a semiconductor substrate so that a metallic conductor in a test block can be prevented from being damaged in an etching process. - 特許庁

構造化光システムにより発生された光ストライプ（Ｌ１〜Ｌｎ）が、部品上に投射され、反射光の画像がカメラ（１６）によって捕捉されて、試験片の区域全体にわたる各々のストライプの特性を求めるために評価される。例文帳に追加

Optical stripes (L1-Ln) generated by structured light system are projected on parts, the image of reflection light is captured with a camera (16) and is evaluated to search for the property of each stripe covering the whole zone of test specimen. - 特許庁

この装置における一定のメモリー内に保管されるものとして、複数の試験片較正コードがあり、これらのコードは一定の多次元的な較正パラメーターの区域における複数の幾何学的領域を示す。例文帳に追加

A plurality of test strip calibration codes is stored in a memory in the device, and those codes represents a plurality of geometric regions in a multi-dimensional calibration parameter space. - 特許庁

被覆された物品（４０）は、超音波送信信号（６８）を被覆された物品（４０）に配向し、被覆された物品（４０）から超音波受信信号（７２）を受信し、超音波受信信号（７２）を用いて、物品の表面（４２）に隣接して位置する被覆された物品（４０）の結合ライン近傍区域（５０）を評価することによって非破壊的に試験される。例文帳に追加

The coated article 40 is nondestructively tested by directing a transmitted ultrasonic signal 68 into the coated article 40, receiving a received ultrasonic signal 72 from the coated article 40, and evaluating a near-bondline region 50 of the coated article 40 located adjacent to the surface 42 of the article using the received ultrasonic signal 72. - 特許庁