試験法開発の英語

階層的な試験開発ツリーを使用して装置及びそれらの試験セットアップを規定する方法及び装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE USING HIERARCHICAL TEST DEVELOPMENT TREE TO SPECIFY DEVICES AND THEIR TEST SETUP - 特許庁

半導体集積回路のための試験プログラムを開発するための方法および構造例文帳に追加

METHOD AND STRUCTURE FOR DEVELOPING TEST PROGRAM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

病原体を検出するための、ＰＣＲに基づく診断試験を数学的に解析する方法の開発。例文帳に追加

To develop a method for mathematically analyzing a diagnostic test based on PCR to detect a pathogenic bacterium. - 特許庁

半導体デバイス基板のエッチング過程の品質のスクリーニング試験法を開発する。例文帳に追加

To develop a screening test method for the quality of a semiconductor device substrate during etching process. - 特許庁

携帯電話機のソフトウェア開発における実機による試験において、ターゲットボード上で、容易にスループットを確認することができるスループット確認試験方法およびスループット確認試験システムを提供する。例文帳に追加

To provide a confirmation testing method and a system for easily confirming a throughput on a target board at the time of performing a test by a real machine in the software development of a portable telephone set. - 特許庁

この発明は、圧縮試験における被試験物の固定方法に関するものであり、特に、自動車部品でサブアセンブリされた部品単位で行う際の静圧縮試験における部品（以下、被試験物）の取付治具を用いた新規な固定方法を開発・提供するものである。例文帳に追加

To provide a new fixing method which is related to a fixing method of an object to be tested in a compression test and uses a mounting jib of a component (hereinafter referred to as the object to be tested) in a static compression test of an automobile component when specially performed per the sub-assembled component. - 特許庁

半導体集積回路のディジタル回路の試験を、特別な外部試験機を開発することなしに、簡単に、しかも迅速に実行できる半導体集積回路の試験装置と、それを使用する半導体集積回路の製造方法を提案する。例文帳に追加

To provide a device for testing a semiconductor integrated circuit (IC) capable of testing the IC simply and quickly without developing a specific outer testing device for testing a digital circuit of the IC, and to provide a method of manufacturing the IC using the testing device. - 特許庁

放射化材を試験材料とすることができ、応力の均一性が改良された、非接触による画像解析法を用いた試験機を開発することを課題とする。例文帳に追加

To develop a tester which can deal with a radioactive material as a test material, improving the stress uniformity and employing a non-contact image analyzing method. - 特許庁