走査型力顕微鏡の英語

走査型プローブ顕微鏡の探針押付け力設定方法例文帳に追加

SETTING METHOD FOR PRESSURE FORCE OF PROBE IN PROBE MICROSCOPE - 特許庁

走査型力顕微鏡およびそのプロ—ブ・ティップの動きを制御する方法例文帳に追加

SCANNING FORCE MICROSCOPE AND CONTROL OF MOVEMENT FOR PROBE TIP THEREOF - 特許庁

自動表面係合の走査型力顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a properly automatically surface engageable scanning force microscope. - 特許庁

原子間力顕微鏡による検査時間（タクトタイム）を大幅に短縮化し、検査用探針の高さを一定に保持して磁気力顕微鏡、走査型ホールプローブ顕微鏡又は走査型磁気抵抗効果顕微鏡による検査を正確かつ高速に行なえるようにする。例文帳に追加

To accurately conduct inspection with a magnetic force microscope, with a scanning Hall probe microscope, or with a scanning magneto-resistive microscope with high speed by greatly shortening inspection time (tact time) with an atomic force microscope, and holding height of an inspection probe uniform. - 特許庁

走査型ローレンツ力プローブ顕微鏡およびこれを用いた情報記録再生装置例文帳に追加

SCANNING LORENTZ FORCE PROBE MICROSCOPE AND INFORMATION RECORDING/REPRODUCING DEVICE USING IT - 特許庁

様々な応力状態にある試料の観察が可能な走査型プローブ顕微鏡の提供。例文帳に追加

To provide a scanning probe microscope capable of observing samples in various stress states. - 特許庁

走査型形状測定装置、原子間力顕微鏡及びそれを用いた表面形状測定方法例文帳に追加

SCANNING TYPE SHAPE MEASURING INSTRUMENT, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND SURFACE SHAPE MEASURING METHOD USING THE SAME - 特許庁

原子間力顕微鏡などにおける力勾配の測定と変位電流の測定を安定させ、精度を高めることを可能にする走査型プローブ顕微鏡を提供するとともに、この走査型プローブ顕微鏡の構成を用いた高密度の情報再生装置を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning type probe microscope for stabilizing the measurement of a force gradient and a displacement current, for example, in an atomic force microscope for improving accuracy, and at the same time to provide a high-density information-reproducing apparatus using the configuration of the scanning-type probe microscope. - 特許庁