電子探針走査の英語

走査型電子顕微鏡を備えたプローバ装置及びプローバ装置の探針クリーニング方法例文帳に追加

PROBER DEVICE EQUIPPED WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND PROBE CLEANING METHOD OF PROBER DEVICE - 特許庁

電子放出源を備えた走査型プローブ顕微鏡用探針を提供する。例文帳に追加

To provide a probe for a scanning type probe microscope equipped with an electron discharge source. - 特許庁

電子ビームの２次元走査により検出された２次電子信号に基づき試料表面の位置と探針のＺ方向の位置とが判明する。例文帳に追加

The position of the sample surface and the position in the Z-direction of the probe are revealed based on a two-dimensional electronic signal detected by the two-dimensional scanning of the electron beam. - 特許庁

電子線の走査時に２本の探針４から出力される吸収電流を、電子線１の走査に連動させて吸収電流像１３，１５を出力する試料検査装置に、以下の仕組みを採用する。例文帳に追加

A sample inspection device for outputting absorption current images 13 and 15 by interlocking an absorption current output from two probes 4 into scanning an electron beam 1 at the time of scanning an electron beam adopts the following configuration. - 特許庁

ＣＮＴ（カーボンナノチューブ）チップ及びその製造方法、並びに電子銃及び走査型プローブ顕微鏡用探針例文帳に追加

CNT (CARBON NANOTUBE) CHIP AND FABRICATING METHOD FOR IT, ELECTRON GUN, AND STYLET FOR SCAN TYPE PROBE MICROSCOPES - 特許庁

探針の微細な制御を正確に簡単に行なうことができる走査電子顕微鏡を用いた検査方法および装置をを実現する。例文帳に追加

To provide an inspection method and a device using a scanning electron microscope capable of performing fine control of a probe accurately and simply. - 特許庁

加工用ダイヤモンド探針１の先端のキャラクタリゼーションが必要なときは使用している加工用ダイヤモンド探針1の先端を水蒸気雰囲気下での高加速電圧の高分解能走査電子顕微鏡観察を行う。例文帳に追加

When characterization of the tip of a diamond probe 1 for machining is needed, a high resolution scanning electron microscope observation at a high accelerating voltage is performed for the tip of the diamond probe 1 in use for machining under a water vapor atmosphere. - 特許庁