電界放射型走査の英語

電界放射型走査電子顕微鏡例文帳に追加

FIELD EMISSION TYPE SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査型電子顕微鏡は電界放射型の走査型電子顕微鏡が好ましく、電子線加速電圧は２ｋＶ以下が好ましい。例文帳に追加

A field emission scanning electron miscroscope is preferably employed and the electron beam acceleration voltage is preferably set ≤2 kV. - 特許庁

電界放射型電子銃と、電界放射型電子銃から放射された電子線を試料に収束する収束手段と、試料を照射する収束電子線を走査する偏向手段と、試料像を投影する投影手段と、試料厚さ測定手段とを備える走査透過型電子顕微鏡観察装置を用いて観察を行う。例文帳に追加

The observation is performed by a scanning transmission electron microscope observation equipment equipped with a field emission electron gun, a convergence means to converge an electron ray emitted from the field emission electron gun onto a sample, a deflecting means to scan a convergence electron ray irradiating the sample, a projecting means to project a sample image, and a measuring means for a sample thickness. - 特許庁

電界放射型走査電子顕微鏡で観察した一次粒子の最大粒子径Ｄ_topと平均粒子径Ｄ_50の比Ｄ_top／Ｄ_50が１以上３以下であることを特徴とする二酸化チタン。例文帳に追加

The ratio D_top/D_50 of the maximum particle diameter D_top to the average particle diameter D_50 of the primary particle of the titanium dioxide observed with a field emission scanning electron microscope is 1 or greater and 3 or less. - 特許庁

電界放射型走査電子顕微鏡で観察した一次粒子の最大粒子径Ｄ_topと平均粒子径Ｄ_50の比Ｄ_top／Ｄ_50が１以上３以下であることを特徴とする二酸化チタン。例文帳に追加

The titanium dioxide has 1-3 ratio D_top/D_50 of the maximum particle diameter D_top to the average particle diameter D_50 when the primary particles thereof are observed by a field emission-type scanning electron microscope. - 特許庁

また、金属被膜３０の表面を、電界放射型走査電子顕微鏡を用いて加速電圧３ｋＶ以下で観察した際に、粒径３μｍ以下の小粒子と、この小粒子が凝集して形成された粒径５μｍ以上２０μｍ以下の中粒子と、この中粒子が凝集して形成された粒径３０μｍ以上の大粒子と、が観察されることを特徴とする。例文帳に追加

When the surface of the metal film 30 is observed using a field emission type scanning electron microscope at an acceleration voltage of 3 kV or lower, small particles having a particle size of 3 μm or smaller, intermediate particles having a particle size of 5-20 μm formed by aggregating the small particles, and large particles having a particle size of 30 μm or larger formed by aggregating the intermediate particles are observed. - 特許庁