atomic motionとは 意味・読み方・使い方

Considering an atomic model having a degree of internal freedom serving to determine covalently bonded portions, the motion of an expansion dynamic system combining atomic nucleus coordinates and the degree of internal freedom is calculated in a classic molecular dynamics method to express the smooth re-linkage of bonds.例文帳に追加

共有結合部位を決定する役割を持つ内部自由度を持った原子モデルを考え、原子核座標と内部自由度を併せた拡張力学系の運動を古典分子動力学法で計算し、結合の滑らかな繋ぎ変えを表現する。 - 特許庁

To provide a method for analyzing molecular motion of the whole or some of molecules in a crystal, by using isotropic temperature factors and atomic coordinates obtained by a crystal structure analysis.例文帳に追加

結晶構造解析により得られる原子座標と等方性温度因子を用いて結晶内の分子全体又その一部の分子の分子運動を解析するための手段の提供。 - 特許庁

According to one exemplary embodiment of the present invention, electrons or ion dynamics are obtained by solving a set of equations for the motion of electrons by using spin-dependent quantum trajectories calculated from electron current with one equation for each electron in the atomic structure of a material of interest.例文帳に追加

本発明の一の例示的な態様では、電子の運動に対する１セットの方程式を、電子カレントから計算されるスピン依存量子軌道を用いて、関心のある材料の原子構造におけるそれぞれの電子に対して１つの方程式によって、解くことによって、電子あるいはイオンのダイナミクスが得られる。 - 特許庁

The atomic force microscope (AFM) 102 includes also an electric power source 130 for impressing a potential between the first tip 302 and the second tip 304, at least one mechanism 108 for generating relative motion between a probe and the surface 131, and at least one sensor 132 for detecting a current flowing between the first tip 302 and the second tip 304.例文帳に追加

該原子間力顕微鏡(102)は更に、第１の先端部(302)と第２の先端部(304)との間に電位を印加する電圧源(130)と、表面(131)とプローブ(106)との間の相対的な運動を生じさせる少なくとも１つの機構(108)と、第１の先端部(302)と前記第２の先端部(304)との間に流れる電流を検出する少なくとも１つのセンサ(132)とを含む。 - 特許庁

This method is applied for the scanning type probe microscope provided with a measuring part for measuring atomic force or the like as to the sample surface by scanning a sample 12 using a probe 25, a fine motion mechanism 24 for moving the probe finely, a prove approaching mechanism 11 for changing a space between the probe and the sample, the optical microscope 22, and a focusing driving mechanism 21.例文帳に追加

この焦点合せ方法は、探針２５で試料１２を走査して試料表面に関する原子間力等を測定する測定部と、探針を微動させる微動機構２４と、探針と試料の間隔を探針接近機構１１と、光学顕微鏡２２と、その焦点合せ用駆動機構２１を備える走査型プローブ顕微鏡に適用される。 - 特許庁

In a disk rotor for a disk brake that brakes a rotary motion of a sliding surface by pushing a brake pad against a rotating sliding surface, at least the sliding surface is composed of aluminum of 40 to 49 atomic % and the remainder of substantially titanium whose structure is a lamellar structure of intermetallic compounds of TiAl and Ti3Al.例文帳に追加

回転する摺動面にブレーキパッドを押し付けることによってその回転運動を制動させるディスクブレーキ用ディスクロータにおいて、少なくとも上記摺動面が、４０〜４９原子％のアルミニウムと、残部が実質的にチタンとからなり、その組織はＴｉＡｌとＴｉ_3Ａｌ金属間化合物のラメラー組織からなる。 - 特許庁