card defectとは 意味・読み方・使い方

A defect of the optical card is detected by a CPU based on signals binarized.例文帳に追加

次に二値化処理された信号に基づいてＣＰＵにより光カードの欠陥検出が行なわれる。 - 特許庁

To provide a card punching and inspecting method that can promptly locate the position of a card defect in a punching apparatus and promptly cope with the defect before many defectives appear.例文帳に追加

カードの打抜装置側における不良の発生箇所を俊敏に特定して不良発生解消対応が大量の不良が生じる前に素早く行えることを可能とするカード打抜検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a connector having a multiplex redundant contact that is endurable to the surface defect during card insertion.例文帳に追加

カード挿入中に表面欠陥に耐えることができる多重冗長接点を有するコネクタを提供する。 - 特許庁

Then, based on the binarized signals, the defect of the optical original card plate is detected by a CPU 25.例文帳に追加

次に二値化処理された信号に基づいてＣＰＵにより光カード原版の欠陥検出が行われる。 - 特許庁

To provide a device holding a semiconductor chip in a probing condition integrally with a probe card for performing a defect analysis and a burn-in test on a semiconductor integrated circuit in a bear chip condition.例文帳に追加

ベアチップ状態で、半導体集積回路の不良解析やバーンイン試験を可能にする。 - 特許庁

Accordingly, such a defect due to the conventional technology that the electronic card is damaged as a part of the electronic card is exposed to the outside of the electric connector, or that a terminal of the electric connector for the card is pressed and deformed due to the slanting of the electronic card, is avoided.例文帳に追加

したがって、従来の技術に、電子カードの部分がカード用電気コネクタの外部に露出するため電子カードを損害し、或いは電子カードの傾斜のためカード用電気コネクタの端子をプレスして変形する欠点を回避できる。 - 特許庁

In this case, the control section 30 controls the first printing section 16 so that a defect mark 5 is printed on the surface 2 of the IC card 1 having the IC chip 4 in which a defect was detected.例文帳に追加

この場合、制御部３０は、欠陥が検出されたＩＣチップ４を有するＩＣカード１の表面２に欠陥マーク５が印字されるよう、第１印字部１６を制御する。 - 特許庁

To restrain the occurrence of a pseudodefect as to an optical card intermediate, and also precisely carry out defect detection.例文帳に追加

光カード中間製品に関し疑似欠陥の発生を抑えることができるとともに、欠陥検出を精度良く行うこと。 - 特許庁