cluster testとは 意味・読み方・使い方

BS CLUSTER TEST DIAGNOSIS RATE IMPROVING SYSTEM例文帳に追加

ＢＳクラスタテスト診断率改善システム - 特許庁

A test zone specification part 14 of a test environment setting device 1 specifies a test zone including a cluster area in the range of a moving device for test 2 and an adjacent cluster area.例文帳に追加

試験環境設定装置１の試験ゾーン特定部１４が、試験用移動機２の在圏クラスタエリアと隣接クラスタエリアとを含む試験ゾーンを特定する。 - 特許庁

A VC cluster 300, a test vector cluster 304 and a function verifying model 320 by purpose are included in the VCDB 100.例文帳に追加

ＶＣＤＢ１００には、ＶＣクラスタ３００と、テストベクタクラスタ３０４と、目的別機能検証モデル３２０とが含まれている。 - 特許庁

Similarity between the feature representation of the transformed test cluster and each feature representation stored in DB10 is computed, and an ID of a training cluster with maximum similarity is sent to a predictor selection section 70.例文帳に追加

変換されたテストクラスタの特徴表現とＤＢ１０に保存された各特徴表現との類似度を算出し、該類似度が最大の訓練クラスタのＩＤを予測器選択部７０に送る。 - 特許庁

A similarity calculation section 50 uses the transformation matrix in DB40 to transform a feature representation of an input test cluster.例文帳に追加

類似度計算部５０は、入力されたテストクラスタの特徴表現をＤＢ４０の変換行列にて変換する。 - 特許庁

A fully functioning cluster of chip sites or an almost fully functioning chip sites is identified by a wafer level test.例文帳に追加

ウェーハ・レベルのテストを使って、完全に機能するチップ・サイト、またはほとんど完全に機能するチップ・サイトのクラスタが識別される。 - 特許庁

A database 402 for system verification including a shared test cruster 410 and a peripheral model cluster 420 is arranged in the VCDB 100.例文帳に追加

ＶＣＤＢ１００内には、共用テストクラスタ４１０と周辺モデルクラスタ４２０とを含むシステム検証用データベース４０２が配置されている。 - 特許庁