When each comparison result is input to a NOR gate 71, a fail signal F1 for determining the measured device 1 is output and input to a tester measuring terminal 8.例文帳に追加

各比較結果がＮＯＲゲート７１に入力されることにより、被測定デバイス１を判定するフェイル信号Ｆ１が出力され、テスター測定端子８に入力される。 - 特許庁

The tester is provided with an A/D converter for inputting the output of the object to be tested, a memory for storing the output of the A/D converter, and a digital comparator for comparing the output of the A/D converter with a comparison voltage data.例文帳に追加

本装置は、被試験対象の出力を入力するＡ／Ｄ変換器と、このＡ／Ｄ変換器の出力を格納するメモリと、Ａ／Ｄ変換器の出力と比較電圧データとを比較するデジタルコンパレータとを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

Each of the DUTs 101-104 is provided with a comparison circuit 201 for comparing transmission identifiers (DUT number/ID number) by the memory tester 105 each with the individual assigned identifiers of the DUTs 101-104 and activating inspection only when matched.例文帳に追加

ＤＵＴ１０１〜１０４の各々は、メモリーテスター１０５による送信識別子（ＤＵＴ番号／ＩＤ番号）を各ＤＵＴ１０１〜１０４に個別の付与識別子と比較し、一致するときに限って検査をアクティブにする比較回路２０１を備えている。 - 特許庁

Further, a LSI tester 25 is provided with test patterns 29a, 29b being original data of the ROM code previously loaded for inspection, parity bits 30a, 30b corresponding to the test patterns 29a, 29b, and a comparison operation part 31.例文帳に追加

さらにＬＳＩテスタ２５には、検査のために予めローディングされたＲＯＭコードの元データであるテストパターン２９ａ、２９ｂと、テストパターン２９ａ、２９ｂに対応したパリティビット３０ａ、３０ｂと、比較演算部３１が設けられている。 - 特許庁

The IC card analyzes the command (606), and operates the command processing of the data writing test (607), and repeats data writing/reading/comparison judgment from a start address to an end address (608-613), and transmits only a final test result to an IC card tester (614).例文帳に追加

ＩＣカードは、コマンドを解析し（６０６）、データ書き込み試験のコマンド処理を行い（６０７）、開始アドレスから終了アドレスまでのデータ書き込み／読み出し／比較判定を繰り返し（６０８〜６１３）、最終的な試験結果のみをＩＣカードテスタに対して送信する（６１４）。 - 特許庁

Thus, even when the image data are displaced in the image data of a low using frequency, a tester can easily find the displacement of the image data on the basis of the comparison of the display result of the sum counter S with an accurate checksum.例文帳に追加

このため、画像データの変位が使用頻度の低い画像データで発生したときであっても検査者がサムカウンタＳの表示結果を正確なチェックサムと比較することに基づいて画像データの変位を容易に発見することができる。 - 特許庁

To decide whether data gotten from a measured device are defective or an expectation signal is defective when it is decided that the result of the comparison of the data obtained from the measured device and the expectation signal is defective in an IC tester.例文帳に追加

本発明の課題は、ＩＣテスタにおいて、被測定デバイスから得られるデータと期待値信号とを比較した結果が不良と判定された場合に、被測定デバイスから得られるデータが不良であるのか、期待値信号が不良であるのかを特定することである。 - 特許庁

Since a D/A power source control part on a tester side largely changes the comparison potential outputted from a D/A power source based on a clock outputted from a control circuit so as to obtain the compared result, the same compared result as the expected value is outputted from the comparator and it is held in a register 114.例文帳に追加

テスター側のＤ／Ａ電源制御部はＤ／Ａ電源から出力される比較電位を前記比較結果が得られるように制御回路から出力されるクロックに基いて大きく変化させるため、コンパレータからは前記期待値と同一の比較結果が出力され、これがレジスタ１１４に保持される。 - 特許庁