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comparison testingとは 意味・読み方・使い方
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「comparison testing」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 36件
OPPORTUNISTIC CPU FUNCTIONAL TESTING WITH HARDWARE COMPARISON例文帳に追加
ハードウェア比較による好機をねらったＣＰＵ機能試験 - 特許庁
The comparison score calculating means 11 calculates a comparison score only for the hypothesis under testing.例文帳に追加
比較スコア算出部11は、検定中の状態にある仮説についてのみ比較スコアを算出する。 - 特許庁
The memory cell 1 is connected to a current comparison circuit 2 and a reference memory cell 3 for testing is connected to the current comparison circuit 2.例文帳に追加
メモリセル１は電流比較回路２に接続され、該電流比較回路２には試験用基準メモリセル３が接続されている。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing device capable of performing accurate comparison processing in comparators.例文帳に追加
コンパレータにおける正確な比較処理を可能とする半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁
When the testing data A are returned to a testing unit 14 through the intermediary of an optional external device or a transmission line, the test data control unit 145 compares the testing data A previously stored in a testing data storing unit 1451 when external data are written with the returned testing data A, and informs the control unit 15 of a comparison result.例文帳に追加
任意の外部装置や伝送路を経由して試験部１４に試験データが戻ってくると、試験データ制御部１４５は外部からのデータ書込み時に試験データ記憶部１４５１に予め記憶しておいた試験データＡと、戻ってきた試験データとを比較し、比較結果を制御部１５に通知する。 - 特許庁
In the testing device, each of a plurality of modules mod_pin includes an expected value comparison part 20 for comparing diagnosis data RDATA_pin, showing a diagnosis result with corresponding expected value data EXP, and outputs comparison determination data CDATA_pin, showing a comparison result by the expected value comparison part 20.例文帳に追加
複数のモジュールｍｏｄ＿ｐｉｎはそれぞれ、その診断結果を示す診断データＲＤＡＴＡ＿ｐｉｎをそれと対応する期待値データＥＸＰと比較する期待値比較部２０を含み、期待値比較部２０による比較結果を示す比較判定データＣＤＡＴＡ＿ｐｉｎを出力する。 - 特許庁
After the delay time is adjusted, an input signal for testing is inputted again, the comparison result data are read again from the comparison result register, and the delay time is confirmed after the adjustment.例文帳に追加
遅延時間が調整された後にテスト用入力信号を再度入力し、比較結果レジスタから比較結果データを再度読み出して、調整後の遅延時間を確認する。 - 特許庁
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「comparison testing」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 36件
To provide a testing apparatus which can dynamically control a conditional branch based on a match detection and a conditional determination based on a logical comparison.例文帳に追加
マッチ検出にもとづく条件分岐と、論理比較にもとづく条件判定を動的に制御可能な試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide testing vessel which makes a staining process easily executable under a microscope even when the vessel is not moved and also makes the comparison between the localized positions of genes and images of cells easier by easily staining hybridized samples.例文帳に追加
顕微鏡下で検査容器を移動することなく染色工程を行わせることが簡便にできるようにする。 - 特許庁
A comparison circuit 20 stores the comparison result data between the pulse width time of the pulse of an input signal IS for testing inputted to the delay circuit 10, and the delay time of delay signals PM-PN outputted from taps PM-PN in the delay circuit 10 in a comparison result register 30.例文帳に追加
比較回路２０は、遅延回路１０に入力されたテスト用入力信号ＩＳのパルスのパルス幅時間と、遅延回路１０のタップＰM〜ＰNから出力される遅延信号ＰM〜ＰNの遅延時間との比較結果データを、比較結果レジスタ３０に記憶する。 - 特許庁
To perform exact comparison between a flow rate measured by a flowmeter and an actual flow rate offered by a testing device.例文帳に追加
流量計によって測定された流量と試験装置によって提供される実際の流量との間で正確な比較を行うこと。 - 特許庁
To provide a circuit pattern testing apparatus which facilitates convenient and rapid creation of a recipe, comparison and display of images, setting of test regions, or other operations.例文帳に追加
レシピの作成、画像の比較表示、検査領域の設定などを使い勝手よく、かつ迅速に行う回路パターンの検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing apparatus, capable of reducing the cost of the logical comparator for logical comparison of an LCD driver IC having a large number of driver outputs.例文帳に追加
本発明は、ドライバ出力数の多いＬＣＤドライバＩＣの論理比較する論理比較器のコストを低くできる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a device evaluation apparatus and method, capable of testing durability of a device which is used in a higher temperature region in comparison with conventional one.例文帳に追加
従来より高温域で用いられるデバイスの耐久性を検証することが可能なデバイス評価装置およびデバイス評価方法を提供する。 - 特許庁
In the gas sensor testing apparatus, the gas volume per gas sensor 11 can be reduced in comparison with an apparatus having a large gas room containing the whole of the sensor.例文帳に追加
このガスセンサ検査装置１は、センサ全体を収容する大型ガス室を有する装置に比べて、１個のガスセンサ１１あたりのガス容積を縮小できる。 - 特許庁
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