比較検査の英語

チップ比較検査の検査時間（スループット）を早くする。例文帳に追加

To decrease the inspection time (throughput) of a chip comparison inspection. - 特許庁

比較器５３では被検査画像と参照画像とが比較される。例文帳に追加

In a comparator 53, the image to be inspected and the reference image are compared. - 特許庁

一致比較部１２４は、両交差テーブルを比較検査する。例文帳に追加

A coincidence comparing section 124 compares both cross tables with each other for inspection. - 特許庁

角部や隅部を有するパターンであっても適切な比較検査ができる差分比較検査方法および差分比較検査装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a difference comparison inspection method and a difference comparison inspection device capable of performing proper comparison inspection even in the case of a pattern having an angular part or a corner part. - 特許庁

ハイレベル比較器５２、ローレベル比較器５３は、被検査電圧と比較電圧とを比較する比較手段を構成するものとする。例文帳に追加

The high-level comparator 52 and the low-level comparator 53 constitute a comparison means for comparing an inspected voltage with the comparison voltage. - 特許庁

相違点を示すための入念な検査および比較例文帳に追加

careful examination and comparison to note points of disagreement発音を聞く  - 日本語WordNet

被検査画像と参照画像とを画素ごとに比較する。例文帳に追加

An inspected image and a reference image are compared by pixels. - 特許庁

画像比較による欠陥検査方法及びその装置例文帳に追加

DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS BY IMAGE COMPARISON - 特許庁