contacted electronとは 意味・読み方・使い方

In the contacting process, the layered clay ore is contacted with an electron-donating compound which donates electron to the layered clay ore.例文帳に追加

接触工程は、層状粘土鉱物と層状粘土鉱物に電子を供与する電子供与体とを接触する工程である。 - 特許庁

In another preferred embodiment, the non-metallic double-colored layer is directly contacted with the electron/embedded devices of the conductive layer.例文帳に追加

他の実施形態では、非金属である二色性の層は、直接電導層の電子／埋め込みデバイスに接触している。 - 特許庁

The positive hole blocking layer 17 is contacted with the electron transporting light emitting layer 6b and contains the same dopant material as that contained in the electron transporting light emitting layer 6b.例文帳に追加

また、正孔ブロッキング層１７は、電子輸送性発光層６ｂに接するとともに、電子輸送性発光層６ｂに含まれるドーパント材料と発光波長の同じドーパント材料を含む。 - 特許庁

If the width, to be contacted with a gap of the drawing out electrode 2 of the cathode electrode side, is taken as L1 and the width to be contacted with a gap of the electron discharging material 4 of the extraction electrode side is taken as L2, sizes of the cathode electrode 2 and the electron discharge material 4 are set so that L1<L2.例文帳に追加

引き出し電極2の、間隙に接するカソード電極側の幅をL1、電子放出材料4の、間隙に接する引き出し電極側の幅をL2とすると、L1＜L2となるようにカソード電極2及び電子放出材料4の大きさを設定する。 - 特許庁

The support substrate has the first surface 24a contacted with the first substrate, the second surface 24b opposed at a gap to the second substrate, and the plurality of electron beam passing holes 26 opposed to the electron discharge source.例文帳に追加

支持基板は、第１基板に当接した第１表面２４ａ、第２基板と隙間を置いて対向した第２表面２４ｂ、およびそれぞれ電子放出源に対向した複数の電子ビーム通過孔２６を有している。 - 特許庁

A heat reversible recording medium comprises a record layer 14 containing at least an electron acceptive compound and an electron donative colorational compound, so that the acceptive compound is contacted with the donative compound in the record layer.例文帳に追加

少なくとも電子受容性化合物および電子供与性呈色性化合物を含む記録層１４を具えており、この記録層中で電子受容性化合物と電子供与性呈色性化合物とは接触している。 - 特許庁

A base pin 22 for measurement from a sixth grid G6 side is inserted in any of electron beam passing holes H1, H2, H3, and a tip is contacted to a second grid G2 in a position of the insertion movement end.例文帳に追加

電子ビーム通過孔H1，H2，H3のいずれかに対し、第６グリッドG6側から測定用基準ピン22を挿入し、その挿入動作端位置にて先端を第２グリッドG2に当接させる。 - 特許庁