contact dummyとは 意味・読み方・使い方

To prevent short-circuiting between a dummy silicon pillar and a gate contact plug.例文帳に追加

ダミーシリコンピラーとゲートコンタクトプラグとがショートしてしまうことを防止する。 - 特許庁

A dummy spring 23 is integrally formed which is protruding forward to the female connecting terminal 17 from the front end, and a dummy tab 20 is integrally formed which contacts with the dummy spring 23 with the male connecting terminal 15, and the dummy tab 20 is brought into contact with the dummy spring 23 prior to the contact of a contact projection 19 and a contact spring 25 when the connecting terminal is connected.例文帳に追加

雌接続端子１７に前端から前方へ突出するダミーバネ２３を一体的に形成し、雄接続端子１５にダミーバネ２３と接触するダミータブ２０を一体的に形成し、接続端子の接続に際して接触突起１９と接触バネ２５との接触に先駆けてダミータブ２０とダミーバネ２３とが接触するようにした。 - 特許庁

A contact is not provided on a Pt film 35 which constitutes an upper electrode 35a, and a dummy lower electrode 33b makes direct contact with dummy barrier metal 32b.例文帳に追加

上部電極３５ａを構成するＰｔ膜３５の上にコンタクトが設けられておらず、ダミー下部電極３３ｂはダミーバリアメタル３２ｂと直接接している。 - 特許庁

When heating a dummy substrate having a thermocouple, the pin 50 comes into contact with an output terminal provided in the dummy substrate.例文帳に追加

熱電対を有するダミー基板を加熱した際には，ダミー基板に設けられた出力端子にピン５０が接触する。 - 特許庁

Then, after an extension arm 17 is extended so that the contact part 18a is positioned above a dummy wiring 4, the contact part 18a is lowered to get in contact with the dummy wiring 4.例文帳に追加

続いて、接触部１８ａがダミー配線４の上方位置になるように延長腕１７を延出してから、接触部１８ａを下降してダミー配線４に接触させる。 - 特許庁

Corrosion of dummy wiring 14 uniformly advances from a surface that is not brought into contact with the substrate, and dummy wiring 14 is disconnected soon.例文帳に追加

ダミー配線１４の腐食は基板と接していない表面から一様に進行し、やがてダミー配線１４は断線する。 - 特許庁

On this account, by the incidence of the are discharge by the contact of the dummy tab 20 with the dummy spring 23 prior to the contact of the contact projection 19 with the contact spring 25 prevents the original contact part from deterioration and damage by the arc discharge.例文帳に追加

このため、接触突起１９と接触バネ２５との接触に先駆けてダミータブ２０とダミーバネ２３との接触でアーク放電を発生させてしまうことにより、本来の接触部がアーク放電で劣化や損傷を受けるのを防止した。 - 特許庁

The probe pins arranged on the probe card are brought into contact with a dummy pad of a dummy element formed on a wafer substrate to obtain an image of a contact trace formed on the dummy pad, and shapes or contact positions of chip portions of the probe pins are computed from the obtained image.例文帳に追加

ウェハ基板に形成されたダミー素子のダミーパッドに、プローブカードに配設されたプローブピンを接触させ、ダミーパッドに形成された接触痕の画像を取得し、取得した画像からプローブピンの先端部の形状または接触位置を算出する。 - 特許庁