copy testingとは 意味・読み方・使い方

To provide a testing method by which presence/absence of defects of current copy type pixels is tested in the state where an EL element is not enclosed.例文帳に追加

ＥＬ素子未封入の状態でカレントコピー型の画素の欠陥の有無を試験することができる試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a TFT array and its testing device capable of measuring an amount of current of a transistor for driving and testing presence/absence of defects of pixels at a state close to an actual use state in current copy type pixels.例文帳に追加

カレントコピー型の画素において、実使用状態に近い状態で、駆動用トランジスタの電流量を測定し、画素の欠陥の有無を試験することが可能なＴＦＴアレイおよびその試験装置を提供する。 - 特許庁

At this time, the PLL counter copy uses a resistor incorporated into a test route including test facilitating means for testing the LSI by a scan path method.例文帳に追加

このとき、ＰＬＬカウンタコピーは、ＬＳＩをスキャンパス法により試験するための試験容易化手段を含む試験経路に組み込まれたレジスタを用いる。 - 特許庁

(2) When the change of the holder results from merging, the application for recording the assignment of a trademark shall be attended by the copy, certified for compliance, of the document at testing the merging.例文帳に追加

(2) 商標権者の変更が合併に由来する場合は，商標譲渡の掲載請求は，合併を証明する書類の認証写を伴うものとする。 - 特許庁

To provide a forming method of a deflecting voltage can copy with both of PVC mode and NVC mode, and to provide a testing device can improve detection sensitivity by reducing scanning deviation of an electron beam caused by noises of a deflection control circuit in an electron beam type testing device based on an electrostatic deflector system of a multi-stage and multi-pole constitution.例文帳に追加

複数段多極構成の静電偏向器方式に基づいた電子ビーム式検査装置において、ＰＶＣモードとＮＶＣモードのいずれにも対応できる偏向電圧生成方法を提供すると共に、偏向制御回路のノイズに起因する電子ビームの走査ずれを低減して検出感度を向上できる検査装置を提供する。 - 特許庁

In the case that the specified information is of an output processing mode for testing, a service man executes trial use in the normal use mode at the maintenance time by using the image information to which the specified information is added without being managed by the managing device such as the copy vender and the key counter.例文帳に追加

特定情報がテスト用出力処理モードの情報である場合は、メンテナンス時にサービスマンは、特定情報の付加された画像情報の使用により、コピーベンダーやキーカウンタ等の管理装置で管理されることなく、通常使用モードでテスト使用を行うことができる。 - 特許庁