defect parameterとは 意味・読み方・使い方

IMAGE PROCESSING DEVICE AND METHOD FOR SUPPORTING PARAMETER CONCERNING DETECTION OF DEFECT ON IMAGE例文帳に追加

画像処理装置および画像上の欠陥検出に係るパラメータの設定を支援する方法 - 特許庁

Namely, frequency distribution being a relation between a defect parameter value and the number of the defects is generated and displayed.例文帳に追加

つまり、欠陥パラメータ値と欠陥数の関係である度数分布を作成し、表示する。 - 特許庁

Meanwhile, the output data of a defect are generated by using fundamental defect data 114, the material constant data 113 and the device parameter 115 (123A).例文帳に追加

一方、基本欠陥データ１１４、材料定数データ１１３、装置パラメータデータ１１５を用いて欠陥の出力データを作成する（１２３Ａ）。 - 特許庁

At least either of a wafer parameter as a settable inspection information and a sensitivity parameter of a defect inspection device is generated from the design information of a semiconductor wafer, and incorporated into a recipe for defect inspection.例文帳に追加

半導体ウェーハの設計情報から、設定可能な検査情報であるウェーハパラメータと欠陥検査装置の感度パラメータとの少なくともいずれかを生成して欠陥検査のためのレシピに組み込む。 - 特許庁

Similarly, an inspection parameter B is detected, using the image of a defect (2) (step110 to ST115).例文帳に追加

同様に、欠陥（２）の画像を用いて、検査パラメータＢが決定される（ＳＴ１１０乃至ＳＴ１１５）。 - 特許庁

To provide a smectic liquid crystal display device having no alignment defect by regulating a condition and a parameter value for canceling a zigzag defect by using a temperature gradient.例文帳に追加

温度勾配を用いてジグザグ欠陥を解消する条件、パラメーター値を規定し、無配向欠陥のスメクチック液晶表示素子を提供する。 - 特許庁

A multi-class classifier is identified which is configured to assign each defect to one of the plurality of the defect classes on the basis of the inspection parameter values.例文帳に追加

検査パラメータ値に基づいて複数の欠陥部類のうちの１つに各欠陥を割り当てるように構成された多重部類分類子が識別される。 - 特許庁

To provide a reference signal generation device which enhances protection of a customer changeable parameter and facilitates restoration with respect to a parameter write defect and the like.例文帳に追加

顧客変更可能なパラメータの保護を強化し、パラメータ書き込み不良等に対する復旧を容易にできる基準信号発生装置を提供する。 - 特許庁