「defect parameter」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

A method for defect analysis includes identifying single-class classifiers for a plurality of defect classes, the plurality of defect classes being characterized by respective ranges of inspection parameter values.例文帳に追加

欠陥解析方法は、検査パラメータ値のそれぞれの範囲によって特徴付けられる複数の欠陥部類に対する単一部類分類子を識別する段階を含む。 - 特許庁

To precisely set a parameter, such as defect detecting thresholds and defect detecting focus, in a short time, in detect inspection.例文帳に追加

欠陥検査において欠陥検出閾値及び欠陥検出フォーカス等のパラメータを高精度で且つ短時間に設定できるようにする。 - 特許庁

IMAGE PROCESSING DEVICE AND METHOD FOR SUPPORTING PARAMETER CONCERNING DETECTION OF DEFECT ON IMAGE例文帳に追加

画像処理装置および画像上の欠陥検出に係るパラメータの設定を支援する方法 - 特許庁

Namely, frequency distribution being a relation between a defect parameter value and the number of the defects is generated and displayed.例文帳に追加

つまり、欠陥パラメータ値と欠陥数の関係である度数分布を作成し、表示する。 - 特許庁

Meanwhile, the output data of a defect are generated by using fundamental defect data 114, the material constant data 113 and the device parameter 115 (123A).例文帳に追加

一方、基本欠陥データ１１４、材料定数データ１１３、装置パラメータデータ１１５を用いて欠陥の出力データを作成する（１２３Ａ）。 - 特許庁

At least either of a wafer parameter as a settable inspection information and a sensitivity parameter of a defect inspection device is generated from the design information of a semiconductor wafer, and incorporated into a recipe for defect inspection.例文帳に追加

半導体ウェーハの設計情報から、設定可能な検査情報であるウェーハパラメータと欠陥検査装置の感度パラメータとの少なくともいずれかを生成して欠陥検査のためのレシピに組み込む。 - 特許庁

Similarly, an inspection parameter B is detected, using the image of a defect (2) (step110 to ST115).例文帳に追加

同様に、欠陥（２）の画像を用いて、検査パラメータＢが決定される（ＳＴ１１０乃至ＳＴ１１５）。 - 特許庁

To provide a smectic liquid crystal display device having no alignment defect by regulating a condition and a parameter value for canceling a zigzag defect by using a temperature gradient.例文帳に追加

温度勾配を用いてジグザグ欠陥を解消する条件、パラメーター値を規定し、無配向欠陥のスメクチック液晶表示素子を提供する。 - 特許庁

A multi-class classifier is identified which is configured to assign each defect to one of the plurality of the defect classes on the basis of the inspection parameter values.例文帳に追加

検査パラメータ値に基づいて複数の欠陥部類のうちの１つに各欠陥を割り当てるように構成された多重部類分類子が識別される。 - 特許庁

To provide a reference signal generation device which enhances protection of a customer changeable parameter and facilitates restoration with respect to a parameter write defect and the like.例文帳に追加

顧客変更可能なパラメータの保護を強化し、パラメータ書き込み不良等に対する復旧を容易にできる基準信号発生装置を提供する。 - 特許庁

The parameter calculated in the processing process is set as a threshold for blot defect detection in a threshold setting process.例文帳に追加

閾値設定工程では、画像処理工程にて算出されたパラメータをシミ欠陥検出用閾値として設定する。 - 特許庁

Then, a parameter suitable for defect identification and defect classification to each of a plurality of these areas is selected from among a plurality of parameters prepared in advance.例文帳に追加

そして、これらの複数の各領域に対する欠陥識別及び欠陥分類に適したパラメータを、予め用意しておいた複数のパラメータのなかから選択する。 - 特許庁

In the case that this defect detection percentage fulfills the detection percentage condition being set optionally, the provisional inspection parameter (a) used at this time is decided as an inspection parameter A (ST108).例文帳に追加

この欠陥検出率が、任意に設定した検出率条件を満たす場合、この際用いた暫定検査パラメータａが検査パラメータＡとして決定される（ＳＴ１０８）。 - 特許庁

A CPU 60 generates a user interface on a display unit 56 and sets a parameter for a serial data pattern and parameters for a data ministick jitter defect given to the serial data pattern, a random jitter defect, and a random jitter defect and at least one deviation crest factor emulation defect.例文帳に追加

ＣＰＵ６０は、表示器５６にユーザ・インタフェースを発生して、シリアル・データ・パターン用のパラメータと、シリアル・データ・パターンに与えるデターミニスティック・ジッタ欠陥、ランダム・ジッタ欠陥及び少なくとも１つの偏差クレスト・ファクタ・エミュレーション欠陥用のパラメータとを設定する。 - 特許庁

DIAGNOSIS OR DETERMINATION FOR PARAMETER OF INSTALLATION DEVICE FOR DETECTING SURFACE DEFECT ON SURFACE OF COMPONENT BY LEACHING例文帳に追加

浸出によって部品の表面の表面欠陥を検出する据付装置のパラメータを診断または判定すること - 特許庁

A parameter for detecting a blot defect is calculated by image-processing the image data by an image processing means in an image processing process.例文帳に追加

画像処理工程では、撮像データを画像処理手段で画像処理してシミ欠陥を検出するパラメータを算出する。 - 特許庁

The system then prints the test pattern, scans the pattern and determines an image quality parameter to automatically discriminate an image defect.例文帳に追加

次に、システムはテストパターンを印刷し、パターンをスキャンし、イメージ品質パラメータを決定して自動的にイメージ欠陥を識別する。 - 特許庁

A method to be executed by a computer includes determining an optimum parameter for inspection based on a selected defect.例文帳に追加

コンピュータによって実施される方法は、選択された欠陥に基づいて検査のための最適パラメータを決定することを含む。 - 特許庁

By correlating a variable spectrum of a motor drive with the speed parameter, a machine defect can be discriminated based on an energy distribution in the spectrum.例文帳に追加

モータ・ドライブの可変スペクトルを速度パラメータに相関させることにより、スペクトルでのエネルギー分布に基づいてマシン欠陥を識別できる。 - 特許庁

Inspection results detected under the plurality of defect detecting conditions are found preliminarily by changing a parameter of the defect detecting condition for detecting the defect based on a Gray level difference between corresponding partial images in the two inspection images, and the optimum inspection result is selected out of the plurality of inspection results.例文帳に追加

２つの検査画像の対応する部分画像のグレイレベル差から欠陥を検出するための欠陥検出条件のパラメータを変えて、複数の欠陥検出条件で検出した検出結果を求めておき、これら複数の検査結果のうちから選んで最適な検出結果を得る。 - 特許庁

To reduce an influence of a parameter of a gradation conversion from an extraction result of a feature quantity and to control a generation of a defect on an image.例文帳に追加

特徴量の抽出結果から階調変換のパラメーターの影響を低減させ、画像上の不具合の発生を抑制できるようにする。 - 特許庁

The feedforward control of an image formation parameter is carried out from the developer time constant and the toner electrostatic charge capability, and the generation of TED or an image defect called STV is prevented.例文帳に追加

現像剤時定数及びトナー帯電能力から作像パラメータをフィードフォワード制御して、ＴＥＤやＳＴＶといった画像ディフェクトの発生を防止する。 - 特許庁

The influence of the parameter of the gradation conversion is reduced from the extraction result of the feature quantity and the generation of the defect on the image is controlled, thereby.例文帳に追加

これにより、特徴量の抽出結果から階調変換のパラメーターの影響を低減させることができ、画像上の不具合の発生を抑制することができる。 - 特許庁

A recipe setting GUI for presetting a parameter required for determining the pattern region and the defect inspection method and sensitivity corresponding to each pattern region are provided.例文帳に追加

また、上記パターン領域の判定に必要なパラメータやパターン領域毎に対応する欠陥検査方式及び感度を予め設定するレシピ設定ＧＵＩを設ける。 - 特許庁

To improve correcting performance by measuring with high accuracy a defective recording element compensation parameter for compensating a plotting defect of a defective recording element with the plotting of other recording elements.例文帳に追加

不良記録素子の描画不良を他の記録素子の描画で補償するための不良記録素子補償パラメータを高精度に計測し、補正性能を向上させる。 - 特許庁

The carbon catalyst is prepared, which has a defect in a carbon structure thereof and is characterized in that a parameter W of an X-band electron spin resonance spectrum appearing at 3,200-3,500 gauss is ≤11 gauss.例文帳に追加

炭素構造の中に欠陥を有し、3200〜3500ガウスに現れるＸ−バンド電子スピン共鳴スペクトルのパラメータＷが１１ガウス以下であるカーボン触媒を調製した。 - 特許庁

A defect improper to classification is extracted after classification, and a classification parameter is adjusted, to thereby enable to change the degree for determining that the classification is improper.例文帳に追加

また，分類後に分類に不適当な欠陥を抽出して分類パラメータを調整することにより，分類を不適当だと判定する程度を変更することを可能とする。 - 特許庁

This device has a configuration wherein, when detecting a foreign matter or a defect on the surface of the inspection object, a parameter for digital filtering is changed dynamically during inspection, and the foreign matter or the defect is discriminated by using a result acquired by removing a low-frequency changing component which is a noise component.例文帳に追加

そして、被検査体表面上の異物や欠陥を検出する際、デジタルフィルタリングのパラメータを検査中に動的に変化させ、ノイズ成分である低周波変動成分を除去した結果を用いて、異物や欠陥を弁別する構成とする。 - 特許庁

To provide an image processor capable of changing a setting value of a print parameter related to a drawing instruction when a defect occurs in a print image to be printed.例文帳に追加

印刷対象の印刷イメージに不具合が発生している場合に、描画に関する命令にかかわる印刷パラメータの設定値を変更することのできる画像処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of not only discriminating a stripe-shaped defect having a known shape generated on the surface of an inspection object by using an optical procedure but also evaluating quantitatively and highly accurately in a short time a parameter characterizing the shape of the stripe-shaped defect.例文帳に追加

光学的手法を用いて、被検査体表面に生じる形状が既知のスジ状欠点の有無を判別するだけでなく、スジ状欠点の形状を特徴付けるパラメータを、短時間で、かつ高精度に定量評価することを可能とする検査装置を提供すること。 - 特許庁

It is possible to prevent the occurrence of holes caused by the epitaxial parameter error by the self-bonding epitaxial growth technique, thereby reducing the defect density, improving the quality of the epitaxial layer, and improving the inner quantum efficiency.例文帳に追加

自己接合エピタキシャル成長技術によりエピタキシャルパラメータ誤差のもたらす孔の発生を防止でき、欠陥密度を減らし、エピタキシャル層の品質を高め、これにより内部量子効率を向上する。 - 特許庁

To solve a defect of a known method that a parameter of controlled spontaneous ignition, especially operation/control of gas temperature in a combustion chamber during compression stroke is extremely insufficient.例文帳に追加

制御自己点火に対するパラメータ特に圧縮行程の間における燃焼室内ガス温度の操作／制御がきわめて不十分であるという従来技術による既知の方法の欠点を解決する。 - 特許庁

To prevent a difference from occurring in a sort recipe between sorting classes, in an automatic defect sorting function, even if a suitable processing parameter is different for each device but a plurality of devices are applied in the same process.例文帳に追加

自動欠陥分類機能では、装置毎に適切な処理パラメータが異なるが同一の工程において複数の装置が運用される場合でも、それぞれの分類レシピにおける分類クラスに差が発生しないようにする。 - 特許庁

When the write parameter dependency of a write probability regarding a writing means, in writing into each memory section or the other condition dependence of the writing parameters dependent on the writing probability is not included in a desired range, it is determined that there is a defect.例文帳に追加

各記憶部位の書き込みにおける書き込み手段に関する書き込み確率の書き込みパラメータ依存性、もしくは書き込み確率の書き込みパラメータ依存性の他条件依存性が所望の範囲を外れる場合、不良と判定する。 - 特許庁

To prevent the generation of malfunction such as increase in error in recording parameter to be obtained or the obtainment of erroneous values, when the property of a recording track (sector) to be used is deteriorated due to defect or expiration of its life at test recording or reproducing operation to obtain recording pulse condition.例文帳に追加

記録パルス条件を求めるテスト記録再生時に、使用する記録トラック（セクタ）が、ディフェクトや寿命などで特性劣化していると、求まる記録パラメータの誤差が大きくなったり、誤った値を求めてしまう不具合が起こる。 - 特許庁

With respect to an outflow type defective element from which charge flows out to adjacent elements (or peripheral elements) because of a defect etc. in a read circuit of a detector, a signal outflow function f(x) expressing the ratio of outflow is held in a storage part 202 as an influence amount parameter 205.例文帳に追加

検出器の読出回路の不具合等によって、電荷が隣接素子（或いは周辺素子）に流出してしまう流出型欠陥素子について、流出の割合を表した信号流出関数ｆ（ｘ）を影響量パラメータ２０５として記憶部２０２に保持しておく。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus with which printing conditions which are optimal for image quality required by a customer are obtained, within a short time on a customer side, and which enables even a user who does not understand relation between an image defect and a parameter to readily obtain printing conditions to easily resolve image defects.例文帳に追加

顧客先で顧客が求める画質に最適な印刷条件を短時間で得られ、さらに画像不良とパラメータの関係を把握していないユーザーでも容易に画像不良を解消する印刷条件を容易に得ることができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁