depth profileとは 意味・読み方・使い方

To analyze a change in a sputtering yield with respect to the measured depth direction profile of an ion implantation element by utilizing attenuation depth and the sputtering yield in a concentration analyzing method of an element in a depth direction.例文帳に追加

深さ方向元素濃度分析方法に関し、測定されたイオン注入元素の深さ方向プロファイルを減衰深さとスパッタ収率との関係を利用し、スパッタ収率の変化を分析しようとする。 - 特許庁

The display of the circumferential line of the coherent part can be generated, and depth profile data can be obtained only from the coherent part.例文帳に追加

コヒーレント部分の外周線の表示を生成し得、深さプロファイルデータは、コヒーレント部分からのみ得られ得る。 - 特許庁

To provide a device hiding a radar, having a profile of a volume, or a depth, and reducing the loss of microwaves.例文帳に追加

容積すなわち奥行きという側面を有しマイクロ波の損失が少ない、レーダーを隠す装置を作ることである。 - 特許庁

To provide a semiconductor substrate, having semiconductor layers of uniform concentration profile in the depth direction of the substrate using a new constitution, and to provide a manufacturing method of the substrate.例文帳に追加

新規な構成による深さ方向に均一な濃度プロファイルの半導体層を有する半導体基板とその製造方法を提供する。 - 特許庁

The photodiodes 10 are formed by using a diffusion layer, having a profile whose concentration and depth are each different.例文帳に追加

フォトダイオード１０は、それぞれ異なる濃度、深さのプロファイルを有する拡散層を用いて形成される。 - 特許庁

Subsequently, a concentration profile showing a correlation between a depth from the surface of wafer and the concentration of dopant impurity is measured through an SIMS (secondary ion mass spectroscope).例文帳に追加

つづいてＳＩＭＳを利用して、ウェーハ表面からの深さとドーパント不純物濃度との相関を示す濃度プロファイルを計測する。 - 特許庁

The peak of a concentration profile on impurities comprising the diffusion layers 13, 13b and 13c exists in the depth of ≥0.04 μm from the surface of the substrate 12.例文帳に追加

拡散層１３，１３ｂ，１３ｃを構成する不純物の濃度プロファイルのピークは、基板１２の表面から０．０４μｍ以上の深さにある。 - 特許庁

To provide a wave gear device having a three-dimensionally contacting positive shifted tooth profile continuously meshing in the tooth trace direction and having an increased tooth depth.例文帳に追加

歯筋方向に沿って連続噛み合い可能で歯たけの大きい３次元接触の正偏位歯形を有する波動歯車装置を提案すること。 - 特許庁