diffraction linesとは 意味・読み方・使い方

The radiation beam generated from a light source (1) is converted into a optical beam array of m×n lines in matrix by a 2-dimensional diffraction grating (3).例文帳に追加

光源（１）から発生した放射ビームを２次元回折格子（３）によりｍ×ｎ本のマトリックス状の光ビームアレイに変換する。 - 特許庁

A diffraction grating by ruled lines 11a is constituted on the circumference of a disk 11 and the disk 11 is rotated by a motor 12.例文帳に追加

刻線１１ａによる回折格子を円板１１上の円周上に構成し、モータ１２によって円板１１を回転させる。 - 特許庁

The diffraction element 16 is divided by two dividing lines L1 and L2 along the direction of the optical disk track.例文帳に追加

回折素子１６は、光ディスクのトラックの方向に沿った２本の分割線Ｌ１・Ｌ２により分割されている。 - 特許庁

The diffraction grating for precisely realizing the spatial frequency by properly changing the interval of grating lines (the number of address grids)in the charged particle beam scanning, and the method of forming the diffraction grating are provided.例文帳に追加

荷電粒子ビーム走査時に格子線間隔（アドレスグリッド数）を適宜変化させることで、空間周波数を精度良く実現した回折格子及びその回折格子の作製方法を提供する。 - 特許庁

The carbon fiber is obtained from wood tar as a raw material and has diffraction lines in the vicinity of 2θ=26° and in the vicinity of 2θ=44° in a powder X-ray diffraction pattern using CuKα as a radiation source.例文帳に追加

本発明の炭素繊維は、木タールを原料とし、線源にＣｕＫαを用いた粉末Ｘ線回折パターンにおいて、２θ＝２６°付近と２θ＝４４°付近に回折線を有することを特徴とする。 - 特許庁

The notch filter includes a diffraction grating in which a refractive index of a low attenuation material forming at least surfaces of grating lines constituting the diffraction grating has an imaginary part of ≥0 and ≤0.3.例文帳に追加

回折格子を構成する格子線の少なくとも表面を構成する低減衰材料の屈折率の虚数部が０以上０．３以下である回折格子からなるノッチフィルター。 - 特許庁

To provide a printed-circuit board having micro strip lines, a printed-circuit board having strip lines, and manufacturing methods of them, wherein crosstalk and diffraction phenomena generated between signal lines are reduced and the transmitting quality of high-speed digital signals is improved.例文帳に追加

信号線間のクロストーク現象及び分散現象が低減されて、高速デジタル信号の伝送品質を向上させることができる、マイクロストリップラインを備えた印刷回路基板、ストリップラインを備えた印刷回路基板、及びそれらの製造方法を提供する。 - 特許庁

Diffraction lines attributed to metallic Si and Si compound cannot be detected in the texture structure by the pattern analysis by X-ray diffraction method and granular texture is unrecognizable by the observation with a transmission electron microscope(TEM).例文帳に追加

また、その組織構造は、Ｘ線回折法によるパターン解析により金属Ｓｉ及びＳｉ化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡(TEM)の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。 - 特許庁