electron microscope levelとは 意味・読み方・使い方

ELECTRON BEAM IRRADIANCE LEVEL DISPLAY DEVICE OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の電子線照射量表示装置 - 特許庁

LEVEL DIFFERENCE MEASURING METHOD, LEVEL DIFFERENCE MEASURING DEVICE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

段差測定方法、段差測定装置及び走査型電子顕微鏡装置 - 特許庁

In the case of B-level abnormality the abnormality information is delivered only to the operator of the scanning electron microscope.例文帳に追加

レベルＢの異常の場合には、異常情報は走査電子顕微鏡のオペレータのみに転送される。 - 特許庁

To realize a method for regulating an electron microscope which can bring forward a degree of skill level of a beginner microscope by improving operability of the microscope by decreasing a regulating work by a complicated knob operation and increasing an operation by a computer.例文帳に追加

煩わしいつまみの操作による調整作業を減少させ、コンピュータによる操作を増やすことによって電子顕微鏡の操作性を向上させ、また初心者の電子顕微鏡の習熟度を早めることができる電子顕微鏡の調整方法を実現する。 - 特許庁

To allow positioning precision of high level such as required in a sample stage of an electron microscope device used in a field of manufacturing a semiconductor, and to allow reduction of a drift.例文帳に追加

半導体製造分野で用いられる電子顕微鏡装置の試料ステージで要求されるような高いレベルでの位置決め精度やドリフトの低減を可能とする。 - 特許庁

To provide a stage system enabling alleviation of vibration or drift at a high level and positioning accuracy, which are required for a sample stage of a scanning electron microscope used in a field of semiconductor manufacturing.例文帳に追加

半導体製造分野で用いられる走査型電子顕微鏡の試料ステージについて要求されるような高いレベルでの振動やドリフトの低減および位置決め精度を可能とするステージ装置の提供。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope device with an inclined column capable of obtaining an inclined image having high resolution in the same level as that of a top-down image obtained using a vertical column.例文帳に追加

直立カラムを用いて得られるトップダウン像と同程度の高分解能の傾斜像を得ることのできる傾斜カラム付の走査電子顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁