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electron microscope imagesとは 意味・読み方・使い方
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「electron microscope images」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 40件
To enable observation of electron microscope images by using phase contrast technique.例文帳に追加
位相差法により電子顕微鏡像を観察可能にする。 - 特許庁
An electron interference microscope images both the specimen and an interference pattern.発音を聞く 例文帳に追加
電子干渉顕微鏡は、試料と干渉パターンの両方を結像する。 - 科学技術論文動詞集
The wave-optical theory of electron microscope images can be expressed in terms of a two-stage Fourier transform.発音を聞く 例文帳に追加
電子顕微鏡像の波動光学理論は、2段階のフーリエ変換で表わすことができる。 - 科学技術論文動詞集
One image after another is taken out of the electron microscope images preserved, and is compared with the reference image.例文帳に追加
保存された電子顕微鏡画像から1枚ずつ取り出し、それを参照画像と比較する。 - 特許庁
To provide an electron microscope capable of creating secondary electrons and transparent electron images that are not affected by the structure in the interior of thin film samples.例文帳に追加
薄膜試料内部の構造の影響を受けない2次電子および透過電子像の構成できる電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
An analysis device calculates deformation and movement of the organic sample 11 from starting time to finishing time of photographing by the reflection electron microscope 4 based on images photographed by the reflection electron microscope 4 and the transmission electron microscope 5.例文帳に追加
解析装置は、反射型電子顕微鏡4及び透過型電子顕微鏡5の撮影した画像に基づいて、反射型電子顕微鏡4の撮影開始時刻から撮影終了時刻までの生体試料11の変形及び運動を計算する。 - 特許庁
To facilitate interpretation of electron microscope images obtained through alleviation of works by utilizing calculation on selection of conditions such as defocusing volumes or an objective lens aperture in a transmission electron microscope observation.例文帳に追加
透過型電子顕微鏡観察における対物レンズのデフォーカス量及び対物絞りの選定といった条件選定を、計算を利用することで作業を軽減し、得られた電子顕微鏡像の解釈を容易にする。 - 特許庁
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「electron microscope images」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 40件
The polishing residues of the barrier metal layer 21 and the copper foil are inspected with a metallurgical microscope or a scanning electron microscope, and it is judged by thresholding the obtained images or a comparison between the images whether the polishing residues are left or not.例文帳に追加
そしてバリアメタル層21や銅膜の研磨残りを金属顕微鏡または走査型電子顕微鏡で検査し、得られた検査画像の2値化処理または画像比較によって研磨残りを判定する。 - 特許庁
To realize a transmission electron microscope capable of smoothly filming images for a wide range of magnifications from low to high.例文帳に追加
低倍率から高倍率まで広い倍率範囲の像の撮影をスムーズに行うことができる透過電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁
To provide a scanning electron microscope which guarantees precision of observation images obtained even if distortion is caused in a deflection signal.例文帳に追加
偏向信号に歪みが生じても、その取得された観察画像の精度を保障する走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
(4) It is confirmed that the ultra-thin isolation membrane having an unprecedented new structure and composition is formed by observing and analyzing images, electron diffraction diagrams and electron energy loss spectroscopy spectrums of the membrane by use of a transmission electron microscope.例文帳に追加
4)本膜を透過型電子顕微鏡により像、電子回折図形および電子エネルギー損失分光法スペクトルを観察、解析し、従来にない新しい構造と組成を有する極薄単離膜が生成していることを確認する。 - 特許庁
The two electron beams transmitting the sample at the same time are spatially separated and imaged by a second electron-beam biprism arranged in an imaging optical system to obtain two electron microscope images with different irradiation angles.例文帳に追加
この同時に試料を透過した2つの電子線を結像光学系に配置した第2の電子線バイプリズムにより空間的に分離して結像させ、照射角度の異なる2つの電子顕微鏡像を得る。 - 特許庁
A column electron microscope combined device has a structure of arranging: an electron microscope capable of beam tilting for obtaining images by irradiating charged particle beams on an observation defect and detecting electrons emitted from a surface of the observation defect; and compact column electron microscopes enabling imaging from an arbitrary angle on a column of the electron microscope.例文帳に追加
本発明は、上記目的を達成するために、荷電粒子ビームを観察欠陥に照射し、観察欠陥の表面から放出される電子を検出して画像を取得するビームチルトが可能な電子顕微鏡と、当該電子顕微鏡カラムに任意の角度から撮像可能とする小型カラム電子顕微鏡を複数配置した構造とする。 - 特許庁
This scanning electron microscope irradiates an electron beam to a sample while keeping pressure in a sample chamber not less than 1 Pa, and detects generated ions to display images of the sample.例文帳に追加
走査電子顕微鏡は、試料室圧力を1Pa以上に保持して試料に電子線を照射し、発生するイオンを検出して試料像を表示する。 - 特許庁
In the scanning electron microscope 10, deflection images 21, 23 in which a voltage value or a current value of the deflection signals s4, s5 to deflect electron beams 13 is cut out as luminance is obtained simultaneously with an observation image from an image cut-out part 19.例文帳に追加
走査型電子顕微鏡10において、画像切出部19より、電子線13を偏向する偏向信号s4,s5の電圧値若しくは電流値を輝度として切り出した偏向画像21,23を、観察画像と同時に取得する。 - 特許庁
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