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electrostatic scanningとは 意味・読み方・使い方
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「electrostatic scanning」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 138件
ELECTROSTATIC SCANNING TYPE ULTRASONIC WAVE VIBRATOR DEVICE例文帳に追加
電子走査式超音波振動子装置 - 特許庁
ELECTROSTATIC BEAM DEFLECTION SCANNING DEVICE AND BEAM DEFLECTION SCANNING METHOD例文帳に追加
静電式ビーム偏向走査装置及びビーム偏向走査方法 - 特許庁
ELECTROSTATIC SCANNING-TYPE COMBINATORIAL ION IMPLANTATION METHOD例文帳に追加
静電走査型コンビナトリアルイオン注入方法 - 特許庁
THIN ELECTROSTATIC DEFLECTOR AND SCANNING CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加
薄型静電偏向器及び走査型荷電粒子ビーム装置 - 特許庁
ELECTROSTATIC CAPACITY MEASURING METHOD BY SCANNING CAPACITIVE MICROSCOPE例文帳に追加
走査容量顕微鏡による静電容量測定方法 - 特許庁
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「electrostatic scanning」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 138件
ELECTROSTATIC CHARACTERISTIC MEASUREMENT METHOD, ELECTROSTATIC CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE, OPTICAL SCANNING DEVICE, AND IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加
静電特性計測方法、静電特性計測装置、光走査装置、及び画像形成装置 - 特許庁
To provide a beam deflection scanning device in which a beam diameter, while scanning by electrostatic deflection, can be kept uniform at any scanning position.例文帳に追加
静電偏向による走査中におけるビーム径を走査位置によらずほぼ一定に保つことができるようにする。 - 特許庁
ELECTROSTATIC CHARGE MEASURING METHOD, FOCUS ADJUSTING METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
帯電測定方法、焦点調整方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING BY SCANNING ELECTROSTATIC CAPACITY MICROSCOPE例文帳に追加
走査型静電容量顕微鏡による測定方法および測定装置 - 特許庁
Ion beams that are scanned by electrostatic scanning in an X direction are applied to a wafer 16.例文帳に追加
X方向の静電スキャンにより走査されたイオンビームがウェハ16に照射される。 - 特許庁
To provide a light beam scanning apparatus capable of forming a high contrast electrostatic latent image.例文帳に追加
コントラストの高い静電潜像を形成することができる光走査装置を提供する。 - 特許庁
The length of the scanning line of the electrostatic latent image is adjusted by dividing a scanning range where the photoreceptor drum is scanned with the laser beam into plurality.例文帳に追加
また、静電潜像の走査線の長さを、当該感光ドラムに対するレーザ光の走査範囲を複数に分割して調整する。 - 特許庁
To provide a charged particle beam scanning method, along with a charged particle beam device, capable of striking a balance between the suppression of effect of electrostatic charge generated by scanning of a front frame and the suppression of an electrostatic charge phenomenon inherent in a scanning pattern generated when scanning is conducted in the same order.例文帳に追加
本発明は、前フレームの走査によって生じる帯電の影響の抑制と、同じ順番にて走査されることによって生じる走査パターン固有の帯電現象の抑制の両立を実現する荷電粒子線走査方法、及び荷電粒子線装置の提供を目的とする。 - 特許庁
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