focused probeとは 意味・読み方・使い方

The ultrasonic probe 4 is focused to the inside of the specimen 5, and the trigger position, the width, the level, the gate position and the width are set (step 3).例文帳に追加

被検体５内部に超音波探触子４の焦点を合わせ、トリガ位置，幅，レベルと、ゲート位置，幅を設定（ステップ３）。 - 特許庁

In the focused ion beam machining device, the probe is provided which has a long life and can be shape processed in accordance with the purpose of an extracted sample in the focused ion beam machining device by forming the tip of the probe device 9 for manipulating a sample 7 into a multi-step thin wire probe 11, and the method of manufacturing the probe is provided.例文帳に追加

集束イオンビーム加工装置において、試料７をマニピュレート操作するためのプローブ装置９の先端を多段の細線プローブ１１とすることで、長寿命化、並びに集束イオンビーム加工装置内での抽出試料目的に合わせた形状加工ができるプローブと製造方法を提供する。 - 特許庁

A glass probe, whose tip has a curved face, is mounted on a driving mechanism 19, and the manipulator consisting of the probe and the driving mechanism 19 is mounted on a processing chamber 15 for focused ion beam.例文帳に追加

先端が曲面状のガラス製プローブを駆動機構１９に取り付け、プローブと駆動機構１９から成るマニピュレータを集束イオンビームの加工室１５に取り付ける。 - 特許庁

This sampling apparatus used in preparing samples for transmission electron microscope observation by a focused ion beam processing apparatus includes a probe which can rotate which its shaft being as an axis of rotation and a rotating means for rotating the probe.例文帳に追加

また、集束イオンビーム加工装置による透過電子顕微鏡観察用試料作製に用いるサンプリング装置は、プローブの軸を回転軸とする回転が可能なプローブと、その回転を行うための回転手段とを備えることを特徴とする。 - 特許庁

The focused sonic therapeutic apparatus includes: a therapeutic probe 2; an apparatus body 3 including a high-pressure pulse generating circuit 10 and an AC pressure rising circuit 9; a signal cable 4 which connects the therapeutic probe 2 to the apparatus body 3; and a power supply cable 7.例文帳に追加

治療用探触子部２，高圧パルス発生回路１０および交流昇圧回路９を含む装置本体３，治療用探触子部２と装置本体３を接続する信号ケーブル４ならびに電源ケーブル７により構成されている。 - 特許庁

This device is equipped with an array type search probe 3, a transmission/reception circuit 4, an addition amplifier 5, an evaluation circuit 6 for evaluating existence of a flaw based on a received signal, a delay circuit 7 for controlling a focused pattern of an ultrasonic beam of the array type search probe 3, and a control means 8.例文帳に追加

アレイ型探触子３、送受信回路４、加算アンプ５、受信信号に基づいて疵の有無を評価する評価回路６、アレイ型探触子３の超音波ビームの集束パターンを制御する遅延回路７と、制御手段８とを備える。 - 特許庁

The extracted residue is removed by physical removal by an AFM probe, electron beam gas assist etching, or focused ion beam gas assist etching to make the mold reusable.例文帳に追加

抽出された残渣をAFM探針による物理的な除去または電子ビームガスアシストエッチングまたは集束イオンビームガスアシストエッチングで除去してモールドを再利用可能にする。 - 特許庁

An electrode of the 4PAFM probe is constituted by manufacturing three slits on a chip of a cantilever using a focused ion beam system (FIB).例文帳に追加

４ＰＡＦＭのプローブの電極は、集束イオンビームシステム（ＦＩＢ）を用いたカンチレバーのチップ上に、３つのスリットを作製することにより構成されている。 - 特許庁