force microscopyとは 意味・読み方・使い方

ATOMIC FORCE MICROSCOPY AND MEASUREMENT HEAD USED FOR OTHER APPLICATION例文帳に追加

原子間力顕微鏡法及び他の用途用の測定ヘッド - 特許庁

TANDEM PIEZOELECTRIC ACTUATOR AND SINGLE DRIVE CIRCUIT FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPY例文帳に追加

原子間力の顕微鏡用タンデム形圧電アクチュエータ及び単一駆動回路 - 特許庁

A binarizing part 1 binarizes an MFM(magnetic force microscopy) observation image of the magnetic recording medium using a threshold value, and extracts a positive or negative magnetic pole region.例文帳に追加

２値化部１は、磁気記録媒体のMFM観察像をしきい値を用いて２値化し、正又は負の磁極領域を抽出する。 - 特許庁

Devices with these improvements have numerous applications, including molecular force measurements, atomic force microscopy and manipulation technology, lithographic manufacturing, nanometer scale surface profiling and other aspects of nanotechnology.例文帳に追加

これらの改良点を伴う装置は、分子力測定、原子間力顕微鏡、および操作技術、リソグラフィ製造、ナノメータースケールの表面形状測定、およびナノテクノロジーの他の局面を含め、多くの用途を有する。 - 特許庁

The surface lubricant index of the magnetic layer is in the range of 1.3-5.0, and the central surface mean roughness SRa in the area of 40 μm×40 μm measured by the atomic force microscopy (AFM) is equal to or less than 4 nm.例文帳に追加

前記磁性層の表面潤滑剤指数は１．３〜５．０の範囲であり、かつ原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）により測定された４０μｍ×４０μｍの面積での中心面平均粗さＳＲａは４ｎｍ以下である。 - 特許庁

An apparatus for atomic force microscopy (AFM) comprises: a first actuator 310 configured to move a cantilever 301 along an axis; a second actuator 311 configured to move the cantilever along the axis; an amplifier 308; and a crossover network 309 connected between the amplifier 308, and the first actuator 310 and the second actuator 311.例文帳に追加

原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）用の装置は、軸に沿ってカンチレバー３０１を移動するように構成された第１のアクチュエータ３１０と、この軸に沿ってカンチレバーを移動するように構成された第２のアクチュエータ３１１と、増幅器３０８と、この増幅器３０８と第１のアクチュエータ３１０及び第２のアクチュエータ３１１との間に接続されたクロスオーバ回路網３０９とを具備する。 - 特許庁