functional test systemとは 意味・読み方・使い方

The test routine can execute a highly functional test in a system and the final product including the ASIC.例文帳に追加

そのテストルーチンは、そのＡＳＩＣを含むシステムや最終製品において高機能な試験を実施可能である。 - 特許庁

To provide a functional test assistance system to realize mechanical and reliable confirmation of the presence/absence of a test for each test item by execution of simulation.例文帳に追加

シミュレーション実行による各テスト項目のテスト有無を機械的かつ確実に確認することを可能とする機能テスト支援システムを提供する。 - 特許庁

To provide a specimen testing system capable of saving space, and to conducting a functional and rational test.例文帳に追加

省スペース化、機能的、合理的な検査が行える検体検査システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To achieve a test support system capable of displaying, at a fail position on a test result waveform, information in which a series of signal movements with functional meaning are extracted.例文帳に追加

テスト結果波形上のフェイル箇所に、機能的な意味のある一連の信号の動きを抽出した情報を表示することができるテスト支援システムを実現する。 - 特許庁

To provide a test facility analysis system for analyzing test facility by executing analysis of controllability/observability at a stage of hardware functional description without depending on architecture.例文帳に追加

アーキテクチャに依存しないハードウェア機能記述の段階で制御性・観測性の解析を実施することによりテスト容易性の解析を行うテスト容易性解析システムを提供する。 - 特許庁

To provide a contrast medium removing system, efficiently and continuously removing a contrast medium causing a renal functional disorder while PCI and pre-operation test are performed.例文帳に追加

ＰＣＩおよび術前検査実施中に、腎機能障害の原因となる造影剤を効率良くかつ持続的に除去する造影剤除去システムを提供する。 - 特許庁

To provide a system and a method for evaluating the ink jet performance of a functional liquid prior to test ejection through a simple arrangement at a low cost.例文帳に追加

機能性液体のインクジェット吐出性を、試験吐出前に簡単な構成及び低コストで評価することのできる評価装置および評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test system of a semiconductor device, which eliminates such a probability that large current flows through a connection section of a connected semiconductor device in the case setting of terminals is changed in accordance with a change in functional tests, thereby avoiding such a state that a measurement is carried out unstably or the test can not be conducted.例文帳に追加

機能テスト変更に伴う端子の設定変更の際、接続した半導体装置との接続部分に大電流が流れる虞がなく、測定の不安定や試験が行えなくなったりすることなどのない半導体装置用試験装置を提供する。 - 特許庁