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high current testとは 意味・読み方・使い方

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意味・対訳 大電流試験


JST科学技術用語日英対訳辞書での「high current test」の意味

high current test


「high current test」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 52



例文

To execute burn-in test using a simple-structured probe card without requiring a high current.例文帳に追加

構造が簡単なプローブカードを用いて、大電流を必要とすることなくバーンインテストを行なう。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having a high operating speed in which current consumption can be reduced at the time of test.例文帳に追加

動作速度が速く、かつ試験時の消費電流を低減できる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a method for manufacturing semiconductor device which realizes high accuracy DC current test as well as high integration and high speed.例文帳に追加

高集積化あるは高速化を図りつつ、高精度での直流電流試験を実現した半導体装置とその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which large current characteristic of high precision can be obtained by a probe test using a low current.例文帳に追加

低電流によるプローブテストにより高精度の大電流特性を得ることのできる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a direct current test apparatus for high voltage which can be configured at low cost without the use of a high withstand voltage switch.例文帳に追加

高耐圧のスイッチを用いることなく、安価に構成することができる高電圧用の直流試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus, a semiconductor test apparatus control method, a program, and a storage medium which generate a large-current load with high precision only by functions of a test apparatus.例文帳に追加

テスト装置の機能のみで大電流負荷を高精度に生成することができる半導体試験装置、半導体試験装置の制御方法、プログラム、及び記録媒体を提供する。 - 特許庁

例文

An alternating current test voltage generating circuit 8 outputs alternating current test voltage to a high voltage battery 2 through an impedance element 7 and a coupling capacitor 6.例文帳に追加

交流試験電圧発生回路8はインピーダンス素子7とカップリングコンデンサ6とを通じて高電圧バッテリ2に交流試験電圧を出力する。 - 特許庁

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「high current test」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 52



例文

To provide an eddy-current test probe and an eddy-current test method using the probe having high detection precision to detect defects of a heat exchanger tube with inner fins.例文帳に追加

インナーフィン付き伝熱管における伝熱管自体に発生した欠陥の検出精度を向上させることができる渦流探傷検査用プローブおよびこれを用いる渦流探傷検査方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a power supply current measuring unit arranged on a semiconductor test system and capable of accurately measuring the power supply current of a device under test at a high speed.例文帳に追加

半導体試験システムに備えられ、被試験デバイスの電源電流を高速でかつ正確に測定できる電源電流測定ユニットを提供する。 - 特許庁

A phase difference between the current signal and an application voltage signal is amplified to a proper largeness, to thereby test integrity of the high-voltage rectifier stack 13.例文帳に追加

この電流信号と印加電圧信号の位相差を適当な大きさに増幅して、高電圧整流器スタック13の健全性を試験する。 - 特許庁

To enable large-current and high-speed intermittent energization to a semiconductor device under test, without causing power output decline.例文帳に追加

電源の出力低下を引起こさずに試験対象の半導体装置への大電流かつ高速の断続通電を可能にする。 - 特許庁

To provide a charging/discharging test device which can perform discharging at high-accuracy constant current, even if the voltage of an object to be tested is in the vicinity of zero, and can perform reverse-polarity charging, as necessary.例文帳に追加

被試験体の電圧がゼロ近傍においても高精度定電流で放電でき,必要に応じて逆極充電できる。 - 特許庁

Moreover, gaps in the glass films can be reduced, and in a high-temperature DC bias test, deterioration of the dielectric strength and increase in the leakage current can be avoided.例文帳に追加

また、ガラス中の空隙を減少させ、高温直流バイアス試験において、耐圧劣化やリーク電流の増大を防止することができる。 - 特許庁

To provide a solid electrolytic capacitor and a method of manufacture thereof which reduce leakage current and increase reliability in a high temperature load test.例文帳に追加

漏れ電流を低減することができ、高温負荷試験における信頼性を高めることができる固体電解コンデンサ及びその製造方法を得る。 - 特許庁

例文

To provide a capacity measurement device which can measure the capacity of a test object with high accuracy by enhancing the measurement accuracy of leak current.例文帳に追加

リーク電流の測定精度を上げて被測定対象の容量値を精度良く測定することのできる容量測定装置を提供する。 - 特許庁

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