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high current testとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 大電流試験
「high current test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 52件
An alternating current test voltage generating circuit 8 outputs alternating current test voltage to a high voltage battery 2 through an impedance element 7 and a coupling capacitor 6.例文帳に追加
交流試験電圧発生回路８はインピーダンス素子７とカップリングコンデンサ６とを通じて高電圧バッテリ２に交流試験電圧を出力する。 - 特許庁
To provide a power supply current measuring unit arranged on a semiconductor test system and capable of accurately measuring the power supply current of a device under test at a high speed.例文帳に追加
半導体試験システムに備えられ、被試験デバイスの電源電流を高速でかつ正確に測定できる電源電流測定ユニットを提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device in which large current characteristic of high precision can be obtained by a probe test using a low current.例文帳に追加
低電流によるプローブテストにより高精度の大電流特性を得ることのできる半導体装置を提供する。 - 特許庁
To execute burn-in test using a simple-structured probe card without requiring a high current.例文帳に追加
構造が簡単なプローブカードを用いて、大電流を必要とすることなくバーンインテストを行なう。 - 特許庁
The picosecond imaging circuit analysis (PICA)/high current source system includes a step for applying a pulse from a high current pulse source to a device under test (DUT).例文帳に追加
ピコ秒イメージ化回路解析（ＰＩＣＡ）／高電流源システムは、高電流パルス源から被試験デバイス（ＤＵＴ）にパルスを加えるステップを含む。 - 特許庁
To provide a semiconductor device having a high operating speed in which current consumption can be reduced at the time of test.例文帳に追加
動作速度が速く、かつ試験時の消費電流を低減できる半導体装置を提供する。 - 特許庁
To provide a direct current test apparatus for high voltage which can be configured at low cost without the use of a high withstand voltage switch.例文帳に追加
高耐圧のスイッチを用いることなく、安価に構成することができる高電圧用の直流試験装置を提供する。 - 特許庁
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「high current test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 52件
To provide a semiconductor device and a method for manufacturing semiconductor device which realizes high accuracy DC current test as well as high integration and high speed.例文帳に追加
高集積化あるは高速化を図りつつ、高精度での直流電流試験を実現した半導体装置とその製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor test apparatus, a semiconductor test apparatus control method, a program, and a storage medium which generate a large-current load with high precision only by functions of a test apparatus.例文帳に追加
テスト装置の機能のみで大電流負荷を高精度に生成することができる半導体試験装置、半導体試験装置の制御方法、プログラム、及び記録媒体を提供する。 - 特許庁
To provide an eddy-current test probe and an eddy-current test method using the probe having high detection precision to detect defects of a heat exchanger tube with inner fins.例文帳に追加
インナーフィン付き伝熱管における伝熱管自体に発生した欠陥の検出精度を向上させることができる渦流探傷検査用プローブおよびこれを用いる渦流探傷検査方法を提供することである。 - 特許庁
To enable large-current and high-speed intermittent energization to a semiconductor device under test, without causing power output decline.例文帳に追加
電源の出力低下を引起こさずに試験対象の半導体装置への大電流かつ高速の断続通電を可能にする。 - 特許庁
As a result, the large current characteristic of the main pattern 1 can be obtained with high precision, from characteristic which is obtained by a probe test using a fine current in the subpattern 2.例文帳に追加
従って、サブパターン２おける微小電流によるプローブテストで得られた特性から、メインパターン１の大電流特性を高い精度で得ることが可能である。 - 特許庁
By short-circuiting the top of the transmission line with the sample, a test signal of high current density is applied to the sample so that a loop of the current standing wave is located in the position of the sample.例文帳に追加
試料によって伝送線路先端を短絡することで、試料の位置を電流定在波の腹として、高電流密度の試験信号を印加する。 - 特許庁
To provide a connection cable for a test plug, capable of easily and rapidly measuring a current, easily making inspection and having high reliability, and to provide a short-circuit structure for the test plug.例文帳に追加
容易かつ迅速に電流測定を行うことができると共に、点検が容易で信頼性の高いテストプラグ用接続ケーブル及びテストプラグの短絡構造を提供すること。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit device facilitating a direct current test by being suited to miniaturization and realizing high speed operation of a circuit, low power consumption and high reliability.例文帳に追加
素子の微細化に適合し、回路の高速動作化と低消費電力と高信頼性を実現し、直流試験を容易にした半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁
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