「high current test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor device having a high operating speed in which current consumption can be reduced at the time of test.例文帳に追加

動作速度が速く、かつ試験時の消費電流を低減できる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a direct current test apparatus for high voltage which can be configured at low cost without the use of a high withstand voltage switch.例文帳に追加

高耐圧のスイッチを用いることなく、安価に構成することができる高電圧用の直流試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a method for manufacturing semiconductor device which realizes high accuracy DC current test as well as high integration and high speed.例文帳に追加

高集積化あるは高速化を図りつつ、高精度での直流電流試験を実現した半導体装置とその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus, a semiconductor test apparatus control method, a program, and a storage medium which generate a large-current load with high precision only by functions of a test apparatus.例文帳に追加

テスト装置の機能のみで大電流負荷を高精度に生成することができる半導体試験装置、半導体試験装置の制御方法、プログラム、及び記録媒体を提供する。 - 特許庁

To provide an eddy-current test probe and an eddy-current test method using the probe having high detection precision to detect defects of a heat exchanger tube with inner fins.例文帳に追加

インナーフィン付き伝熱管における伝熱管自体に発生した欠陥の検出精度を向上させることができる渦流探傷検査用プローブおよびこれを用いる渦流探傷検査方法を提供することである。 - 特許庁

To enable large-current and high-speed intermittent energization to a semiconductor device under test, without causing power output decline.例文帳に追加

電源の出力低下を引起こさずに試験対象の半導体装置への大電流かつ高速の断続通電を可能にする。 - 特許庁

As a result, the large current characteristic of the main pattern 1 can be obtained with high precision, from characteristic which is obtained by a probe test using a fine current in the subpattern 2.例文帳に追加

従って、サブパターン２おける微小電流によるプローブテストで得られた特性から、メインパターン１の大電流特性を高い精度で得ることが可能である。 - 特許庁

By short-circuiting the top of the transmission line with the sample, a test signal of high current density is applied to the sample so that a loop of the current standing wave is located in the position of the sample.例文帳に追加

試料によって伝送線路先端を短絡することで、試料の位置を電流定在波の腹として、高電流密度の試験信号を印加する。 - 特許庁

To provide a connection cable for a test plug, capable of easily and rapidly measuring a current, easily making inspection and having high reliability, and to provide a short-circuit structure for the test plug.例文帳に追加

容易かつ迅速に電流測定を行うことができると共に、点検が容易で信頼性の高いテストプラグ用接続ケーブル及びテストプラグの短絡構造を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device facilitating a direct current test by being suited to miniaturization and realizing high speed operation of a circuit, low power consumption and high reliability.例文帳に追加

素子の微細化に適合し、回路の高速動作化と低消費電力と高信頼性を実現し、直流試験を容易にした半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide a DC test apparatus that supplies a high-precision voltage or current at high speed even to a capacitive load and a semiconductor inspection apparatus employing the same.例文帳に追加

容量性負荷に対しても高速に高精度の電圧または電流を供給できる直流試験装置とそれを用いた半導体検査装置を実現すること。 - 特許庁

To provide a capacity measurement device which can measure the capacity of a test object with high accuracy by enhancing the measurement accuracy of leak current.例文帳に追加

リーク電流の測定精度を上げて被測定対象の容量値を精度良く測定することのできる容量測定装置を提供する。 - 特許庁

Moreover, gaps in the glass films can be reduced, and in a high-temperature DC bias test, deterioration of the dielectric strength and increase in the leakage current can be avoided.例文帳に追加

また、ガラス中の空隙を減少させ、高温直流バイアス試験において、耐圧劣化やリーク電流の増大を防止することができる。 - 特許庁

To provide a charging/discharging test device which can perform discharging at high-accuracy constant current, even if the voltage of an object to be tested is in the vicinity of zero, and can perform reverse-polarity charging, as necessary.例文帳に追加

被試験体の電圧がゼロ近傍においても高精度定電流で放電でき，必要に応じて逆極充電できる。 - 特許庁

To provide an inspection device and a test method for a rotary electric machine capable of evading the fear of being unable to perform an insulation test under a high voltage since a heavy current flows in a stator coil, when a defect test of the stator is performed in a manufacturing process.例文帳に追加

製造工程におけるステータの不良検査時において、大電流がステータコイル流れるために高電圧での絶縁試験ができないおそれを回避できる回転電機の検査装置および検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a solid electrolytic capacitor and a method of manufacture thereof which reduce leakage current and increase reliability in a high temperature load test.例文帳に追加

漏れ電流を低減することができ、高温負荷試験における信頼性を高めることができる固体電解コンデンサ及びその製造方法を得る。 - 特許庁

A phase difference between the current signal and an application voltage signal is amplified to a proper largeness, to thereby test integrity of the high-voltage rectifier stack 13.例文帳に追加

この電流信号と印加電圧信号の位相差を適当な大きさに増幅して、高電圧整流器スタック１３の健全性を試験する。 - 特許庁

To implement charge-discharge tests of high accuracy, the current value detected is allowed to approach to a constant current set value efficiently in a controller 31 for charge-discharge test controlling a DC power source apparatus 13 and an electronic load apparatus 14 for implementing charge-discharge test for an object to be tested.例文帳に追加

被試験物の充放電試験を行うために、直流電源装置１３および電子負荷装置１４を制御する充放電試験用コントローラ３１において、効率よく定電流設定値に近づけ、高精度の充放電試験を実施する。 - 特許庁

To generate a fault list of a delay fault, a wire breaking fault, and a path delay fault which can be detected by a transient source current testing method with high observableness and a test pattern series.例文帳に追加

可観測性の高い過渡電源電流試験法により、検出可能な遅延故障、断線故障、パス遅延故障と又テストパターン系列との故障リストを生成する。 - 特許庁

To provide high-temperature superconducting current lead basic property test equipment that not only quickly tests the properties related to the current, magnetic field and temperature of an HTS (high temperature superconducting current) lead involving low-thermal infestation and low heat generation under proper conditions, but also obtains information about the design policy of a superconducting magnet to be included in the HTS lead.例文帳に追加

低熱侵入かつ低発熱のＨＴＳリードの電流、磁場、温度に関する諸特性を迅速、かつ的確な条件で試験することが可能で、ＨＴＳリードを組み込む超電導磁石装置の設計指針に関する情報を得ることができる高温超電導電流リード基礎特性試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for predicting deterioration of a semiconductor device in a short period of time and and a method for predicting deterioration of a semiconductor device with high accuracy by finding a correlation between deterioration prediction of an actual semiconductor device and a DC (Direct Current) stress test method for a simple body TEG (Test Element Group).例文帳に追加

本発明により、実際の半導体装置の劣化予測と単体ＴＥＧのＤＣストレス試験法との相関を求めることにより、短時間で半導体装置における劣化予測を行う方法を提供する。 - 特許庁

For example, when a leakage protection plug for 100 v appliance is connected to a 200 v plug outlet, the pseudo earth leakage circuit 8 conducts applied with high voltage and the pseudo earth leakage current runs to the test circuit 16 in the same manner as a test switch 7a is pressed.例文帳に追加

例えば１００ｖ機器用の漏電保護プラグが２００ｖコンセントに差し込まれると、擬似漏電回路８が過電圧を印加されて導通し、テストスイッチ７ａが押されたときと同様にテスト回路１６に擬似漏電電流が流れる。 - 特許庁

To realize an IC tester capable of shortening the inspection time by making the number of measurement time into once at the test mode of L level and H level, without having to use expensive current-impressing/high voltage measurement means.例文帳に追加

高価な電流印加／高電圧測定器を使用することなく、Ｌレベル及びＨレベルテストモードでの測定回数を１回として検査時間を短縮できるＩＣテスタを実現する。 - 特許庁

A controller controls the current to an upper high-frequency induction heating coil 23a to control the heating of an upper press plate 20A and the upper surface of the test piece TP is heated corresponding to the heating control of the upper press plate.例文帳に追加

コントローラは、上側の高周波誘導加熱コイル２３ａへの電流を制御することで上圧盤２０Ａを加熱制御し、これ応じて供試体ＴＰの上面が加熱される。 - 特許庁

To provide a test socket of a semiconductor device having a large contact area to an external terminal, high current, capable of conducting a high frequency reliability test, of preventing insufficient soldering in mounting caused by scratches on the surface of the external terminal, and of preventing damage such as breakage or chipping in a product.例文帳に追加

外部端子との接触面積が大きく、十分な大電流、高周波信頼性試験を行うことができ、外部端子表面への疵付けで実装時の半田付けが十分に行えなくなる虞が少なく、製品に破損や欠けなどの問題が生じる虞が少ない半導体装置のテストソケットを提供する。 - 特許庁

The high voltage test device 10 consists of a transformer 10a for test, a direct current generator 10b, an impulse generator 10c, a change-over device unit 10e, a drive device 10g, and a universal potential divider 10j, and a bushing unit 10k which have sealed tank structures, respectively.例文帳に追加

高電圧試験装置１０を、それぞれ密閉タンク構造の試験用変圧器１０ａ、直流発生器１０ｂ、インパルス発生器１０ｃ、切り替え装置ユニット１０ｅ、駆動装置１０ｇ、万能分圧器１０ｊ及びブッシングユニット１０ｋによって構成する。 - 特許庁

The controller also controls the current to a lower high-frequency induction heating coil 23b to control the heating of a lower press plate 20B and the under surface of the test piece TP is heated corresponding to the heating control of the lower press plate.例文帳に追加

一方、コントローラは、下側の高周波誘導加熱コイル２３ｂへの電流を制御することで下圧盤２０Ｂを加熱制御し、これ応じて供試体ＴＰの下面が加熱される。 - 特許庁

To provide a probe for an eddy current test that can measure even cementation that is generated in spots and advances in the thickness direction, and has high detection sensitivity in equipment or piping having a large thickness.例文帳に追加

肉厚の大きい機器や配管において、スポット的に発生し、肉厚方向に進展した浸炭でも感度良く測定が可能な、検出感度の高い渦流探傷試験用プローブを提供する。 - 特許庁

To provide a surge absorbing circuit which is reduced in size over the entire circuit, suppresses a higher harmonic leak current by keeping a high impedance characteristic over the whole frequency region, operates at a voltage smaller than an insulation test voltage when a lightning surge is applied and does not operate during an insulation test.例文帳に追加

回路全体を小型化し、かつ全周波数領域で高インピーダンス特性を維持して高調波漏れ電流を抑制して、雷サージ印加時には絶縁耐圧試験電圧よりも小さい電圧値で動作し、絶縁耐圧試験時は動作しないサージ吸収回路を得る。 - 特許庁

The test control voltage signal TC flows through resistors R1 and R2 when the NPN transistor Q0 is turned on, the operation of a voltage controlled oscillator V1 and a buffer B10 is stopped because the current from a current source I1 is not supplied, and the output impedance of the buffer B10 becomes high.例文帳に追加

テスト制御電圧信号ＴＣは、抵抗Ｒ１、Ｒ２を流れ、ＮＰＮトランジスタＱ０がオンとなることで、電圧制御発振器Ｖ１およびバッファＢ１０は、電流源Ｉ１からの電流が供給されず動作を停止し、バッファＢ１０の出力インピーダンスは高くなる。 - 特許庁

To provide an eddy-current type inspection device, capable of adapting to a tempering depth/hardness measuring test, even for a high-frequency tempered part which has its outside diameter changed by significant amount is inspected, because even an inspection target which is altered in its outside diameter can be inspected with high inspection accuracy, regardless of the measurement region, and to provide an eddy-current type inspection method.例文帳に追加

外径が変化する検査対象物であっても測定部位に関わらず高い検査精度で検査することができるため、外径が大きく変化するような高周波焼入れ部品を検査する場合であっても焼入れ深さ／硬度測定試験に適用することが可能な、渦流式検査装置、及び、渦流式検査方法を提供する。 - 特許庁

To substantially and highly efficiently perform a high voltage inspection without involving short circuit failure by a simple configuration even when clearly and accurately performing a high-voltage application test collectively for a plurality of inspection object devices in a current waveform (or a voltage waveform) conformed to the standards.例文帳に追加

検査対象の複数個のデバイスに対して一括して、規格に適合した電流波形（または電圧波形）で明確かつ正確に高電圧印加試験を行う場合にも、簡単な構成でショート不良が混在することなく、高電圧検査を大幅に効率よく行う。 - 特許庁

A variable resistor (37) is turned into a low resistance state, during normal operation to reduce a signal delay and is switched to a high resistance state during test operation, since logic defects are generated by a leakage current.例文帳に追加

可変抵抗手段（３７）は、通常動作時には、信号遅延の低減を図るために低抵抗状態にされ、テスト動作時には、リーク電流に起因する論理不良を生じさせるために高抵抗状態に切り換えられる。 - 特許庁

To obtain high-occuracy measurement of discrete static current consumption properties of semiconductor integrated circuit device each and the electrical characteristics of a plurality of function circuits, even if a plurality of semiconductor integrated circuit devices are tested simultaneously for the static current consumption test of them and the electrical characteristics of the plurality of function circuits.例文帳に追加

半導体集積回路装置の静的消費電流テストや複数の機能回路の電気的特性を複数の半導体集積回路装置で同時に行っても、半導体集積回路装置個々の静的消費電流特性や複数の機能回路の電気的特性を高い精度で測定可能とする。 - 特許庁

To provide an eddy current measuring sensor and an eddy current measurement method with which a hardened depth measurement test can be conducted with high detection accuracy even when inspecting a high-frequency hardened component with a widely changing outer diameter or a recessed part, and measurement accuracy can be improved by eliminating influence of lift-off at the measurement of the hardened depth.例文帳に追加

外径が大きく変化したり、凹部を有したりするような高周波焼入れ部品を検査する場合であっても高い検出精度で焼入れ深さ測定試験を行うことができ、また、焼入れ深さの計測にあたってリフトオフの影響を排除することで計測精度を向上させることが可能となる、渦流計測用センサ及び渦流計測方法を提供する。 - 特許庁

To provide a magnetic random access memory (MRAM) in which the set value of writing current in a writing test mode is switched to a value smaller than and a value larger than those in normal use to realize evaluation of an erroneous margin or a writing margin resulting in the high reliability of the MRAM.例文帳に追加

ＭＲＡＭにおいて、書き込みテストモードにおいて書き込み電流の設定値を、通常使用時よりも小さい値と大きい値を切り替えて誤書き込みマージンや書き込みマージンを評価することを可能とし、高信頼性を実現する。 - 特許庁

During a normal mode, signals are transferred from the first external output terminal to the outside, and the second external output terminal is made not to operate; and during the scan test mode, a test result signal is transferred from the second external output terminal having high output-current capability to the outside and the first external output terminal is made not to operate.例文帳に追加

ノーマルモード時においては、第１の外部出力端子から外部へ信号を転送し、第２の外部出力端子は動作させず、スキャンテストモード時においては、高い出力電流能力を有する第２の外部出力端子からテスト結果信号を外部へ転送し、第１の外部出力端子は動作させない構成とする。 - 特許庁

A collection of data processing algorithm is suitably used instead of a high pass filter stage of the eddy current inspection system, and is simultaneously used for providing required data for an optimized system for inspecting test pieces on whether to be a slender defect of traveling in parallel to the scanning axis.例文帳に追加

渦電流検査システムの高域通過フィルタ段の代わりに用いるのに適し、また、走査軸に平行に走る細長い欠陥がないか試験片を検査するために最適化されたシステムに必要なものを提供する同時に用いられるデータ処理アルゴリズムの集合体。 - 特許庁

To provide a disturbance and noise reduction system for a fluid flow that reduces the disturbance and noise by temporarily modulating noise and low-frequency-range components of an air current of wind tunnel test facilities, air-conditioning facilities, etc., into high-frequency components which are easy to attenuate.例文帳に追加

風洞試験設備や空調設備等における気流の乱れと騒音の低周波数帯域成分を、一旦、減衰しやすい高周波帯域成分に変調することで、乱れと騒音の低減化を達成する流体流れの低乱・低騒音化システムを提供する。 - 特許庁

To provide an oxidation-reduction current measurement method and a measurement device therefor, having a simple structure and capable of measuring the concentration of a component to be measured with high precision, without requiring a complex structure and part and short-life consumables in order to feed a test water (sample solution) at a constant flow rate.例文帳に追加

検水（試料液）を定流量で送液するために複雑な構造や部品、及び、短寿命の消耗品を必要としない、構造が簡単で、高精度にて測定対象成分の濃度を測定することのできる酸化還元電流測定方法及び測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide an eddy current measuring sensor capable of performing a hardening depth/hardness measuring test with high detection precision by the strong magnetic field in a probe type coil even when a high-frequency hardening unit largely changed in its outer diameter is inspected and capable of further reducing edge effect, and an inspection method using the same.例文帳に追加

外径が大きく変化するような高周波焼入れ部品を検査する場合であっても、プローブ型コイルにおける強い磁界により高い検出精度で焼入れ深さ／硬度測定試験を行うことができ、さらにエッジ効果を低減させることが可能となる、渦流計測用センサ、及び、渦流計測用センサによる検査方法を提供する。 - 特許庁

In the probe for an eddy current test, the interval of the coil of the probe is 10-50 mm, the inside diameter and the width of the coil are, preferably 1-50 mmϕ and 1-10 mm, respectively; and furthermore, a magnet, ferrite, or a high-permeability metal are, preferably arranged inside the coil.例文帳に追加

本発明の渦流探傷試験用プローブは、プローブのコイルの間隔が１０〜５０ｍｍであることを特徴とし、コイルの内径が１〜５０ｍｍφ、コイルの幅が１〜１０ｍｍであることが好ましく、更にコイルの内側に磁石、フェライトまたは高透磁率金属を配置していることが好ましい。 - 特許庁

To make a niobium solid-state electrolytic capacitor small and stable by suppressing a leakage current in a high-temperature load test, in a method of manufacturing the niobium solid-state electrolytic capacitor fabricated by forming a chemical conversion-treated film, a solid-state electrolyte layer, and a cathode extraction layer in this order on the surface of an anode body made of niobium or an alloy mainly formed of niobium.例文帳に追加

ニオブ又はニオブを主成分とする合金からなる陽極体表面に、化成皮膜、固体電解質層、陰極引出層を順次形成するニオブ固体電解コンデンサの製造方法において、 高温負荷試験中における漏れ電流の増大を抑制して、小さく且つ安定なものとする。 - 特許庁

Gas for sputtering is introduced into a furnace to remove any residual gas and impurities on a surface of a test piece, nitrogen and hydrogen is introduced into the furnace, the power of the low current is applied to a multiple hollow cathode to generate plasma of high density, and the state of nitrogen plasma in the plasma is changed to form a nitride layer to the nano-size.例文帳に追加

炉の内部にスパッタリングのための気体を注入して試片表面の残留ガス及び不純物を除去し、炉の内部に窒素と水素を注入するとともに多重中空陰極体に低電流の電力を印加して高密度のプラズマを生成し、プラズマ内の窒素プラズマの状態を変えて窒化物層をナノサイズに形成する。 - 特許庁

In this test device for accelerating the deterioration of the electrophotographic photoreceptor by rotating the photoreceptor at high speed and repeating a cycle including an electrostatically electrifying stage and a light discharge stage, the passing current and the surface potential of the photoreceptor are measured by an ammeter 6 and an electrometer for surface potential 7 so as to control to keep the surface potential on a fixed condition.例文帳に追加

電子写真感光体を高速で回転させ、静電気帯電工程と光放電工程を含むサイクルを繰り返して感光体の劣化を加速させる試験装置において、電流計６、表面電位計７などで、感光体の通過電流と表面電位を計測し、表面電位を一定条件に保つように制御する。 - 特許庁