high resolution electron microscopeとは 意味・読み方・使い方

To provide an analyzer using an electron beam capable of combining a scanning electron microscope 1 and a scanning probe microscope and introducing a probe A11 between a sample W and the top end of a body tube while achieving high resolution of the scanning electron microscope 1.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡１及び走査型プローブ顕微鏡を組み合わせることができ、さらに、走査型電子顕微鏡１の高分解能を実現しつつ、プローブＡ１１を試料Ｗ及び鏡筒先端間に導入可能にする。 - 特許庁

By the invention, the high-luminance and high-resolution electron microscope and the electron beam drawing device can be obtained.例文帳に追加

また、各電子線放出素子を用いて電子銃，電子顕微鏡及び電子線描画装置とすることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of obtaining a high-resolution and high-contrast concavoconvex image of a sample surface.例文帳に追加

本発明は、試料表面の高分解能かつ高コントラストな凹凸像を得ることを特徴とする走査型電子顕微鏡を提供するものである。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which obtains a high-resolution and high-contrast concavo-convex image of a sample surface.例文帳に追加

本発明は、試料表面の高分解能かつ高コントラストな凹凸像を得ることを特徴とする走査型電子顕微鏡を提供するものである。 - 特許庁

To provide an inexpensive and space-saving scanning electron microscope having a wide visual field, high resolution, high efficiency detection, and uniform detection efficiency.例文帳に追加

広視野、高分解能、高効率検出、均一検出効率の走査型電子顕微鏡を低コスト省スペースで提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope with high speed and resolution by upgrading a multi-beam type scanning electron microscope and improving its image forming performance.例文帳に追加

マルチビーム型の走査型電子顕微鏡を改良し、その結像性能を向上させることにより、高速で解像度の良い走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a phase plate and a method of manufacturing the same, and a phase difference electron microscope capable of acquiring a stable, high-resolution phase difference electron microscope image.例文帳に追加

安定で、かつ高分解能の位相差電子顕微鏡像の取得が可能な位相板及びその製造方法、並びに位相差電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Thereby the total distortion aberration of mapping type electron microscope becomes small, and the sample can be observed with high resolution.例文帳に追加

これにより、写像型電子顕微鏡全体として歪曲収差が小さくなり、高分解能で試料を観察することができる。 - 特許庁