To detect an emission image in a good semiconductor integrated circuit and an emission image in a semiconductor device to be analyzed for failure in order to specify the failure position of the semiconductor integrated circuit laid in an operating state and compare both the emission images to each other to perform the failure analysis.例文帳に追加

動作状態の半導体集積回路の故障箇所を特定するために、良品の半導体集積回路におけるエミッション像と故障解析を行う半導体集積回路におけるエミッション像とを検出し、両エミッション像を比較して故障解析を行うことを特徴とする。 - 特許庁

An image analysis part 13 frequency-analyzes the image data generated by the camera 12 and calculates an integrated value by integrating prescribed frequency components characteristic of water splashes.例文帳に追加

画像解析部１３は、カメラ１２によって生成された画像データを周波数解析し、水しぶきに特徴的な所定の周波数成分を積算して積算値を算出する。 - 特許庁

An observation precision verifying means 3 evaluates observation precision of the national composition radar rainfall amount data, using visual inspection, specification of a rainfall period, a selected ground rainfall amount observation point, an integrated rainfall amount image, index value analysis and a hyetograph, over the whole year.例文帳に追加

観測精度検証手段３は、全国合成レーダ雨量データの観測精度を年間を通した目視点検、降雨期間の特定、選定された地上雨量観測地点、累加雨量画像、指標値解析、ハイエトグラフを用いて評価する。 - 特許庁

An integrated value analysis part 14 analyzes the tendency of integration result of the area-based depth values of the input image, based on the area-based open-sky area weighting average values and the portrait-area weighting average values and specifies a composition.例文帳に追加

積算値解析部１４は、領域毎にオープンスカイ領域重み付け平均値およびポートレート領域重み付け平均値に基づいて、入力画像の前記領域毎の奥行値の積算結果の傾向を解析し、構図を特定する。 - 特許庁