measure processとは 意味・読み方・使い方

To measure the layer thickness of a substrate in the process of chemical mechanical polishing.例文帳に追加

基板上の層の厚さを、ケミカルメカニカルポリシング中の処理状態のままで測定する。 - 特許庁

To easily and accurately observe and measure the width of a vibration plate of a droplet discharge head in a process.例文帳に追加

液滴吐出ヘッドの振動板幅を、工程内で容易に精度良く観察、測定できるようにする。 - 特許庁

To provide an environmental measure cost calculation system for effectively setting an improvement target of an environmental measure by calculating the cost of the environmental measure for each process and material.例文帳に追加

工程や材料毎に環境対策原価を計算し、その改善目標を効果的に設定することができる環境対策原価計算システムを提供すること。 - 特許庁

A measure determination unit 18 determines propriety of implementation in accordance with the implementation propriety information, regarding a risk measure for a business process or a business activity, from a measure kind thereof and measure kinds of risk measures for business processes above, below, before, and after thereof or business activities.例文帳に追加

対策判定部１８は、業務プロセスまたは業務活動のリスク対策について、その対策種別と、その上下、前後の業務プロセスまたは業務活動のリスク対策の対策種別とから、実施適否情報に従って実施の適否を判定する。 - 特許庁

To accurately measure the double refraction characteristics of a film in a manufacturing process to feed back the same to a process condition.例文帳に追加

製造工程内でフイルムの複屈折特性を正確に測定し、工程条件にフィードバックする。 - 特許庁

The handling units 3 descend in a position of the respective process units 6, and deliver the electronic part to the process units 6, and measure, inspect or work the electronic part.例文帳に追加

ハンドリングユニット３は、各工程ユニット６の位置で下降して電子部品を工程ユニット６に渡し、測定、検査又は加工される。 - 特許庁

To measure the surface temp. of an ITO film whose radiation coefficient is unknown in the process of a film forming process and to control the temp. of a substrate by using the measured temp.例文帳に追加

成膜工程中に、放射係数が未知であるＩＴＯ膜の表面温度を測定し、測定された温度を用いて、基板の温度を制御する。 - 特許庁

In the process improvement support apparatus, an object to be improved is specified (S43 and S34) using defect images and pareto diagrams, etc., a measure list generating engine generates a measure plan against the defects and a measure list is prepared (S46 and S37).例文帳に追加

工程改善支援装置においては、不良画像、パレート図等を用いて改善が必要な改善対象を特定させ（Ｓ４３、Ｓ３４）、不良に対する対策計画を対策リスト生成エンジンに生成させて対策リストを作成する（Ｓ４６、Ｓ３７）。 - 特許庁