optimum testing methodとは 意味・読み方・使い方

SWEEP SYNCHRONIZATION TESTING DEVICE, AND METHOD OF SIMULATING OPTIMUM CONTROL SET VALUE THEREFOR例文帳に追加

掃引同調試験装置及びその最適制御設定値シミュレーション方法。 - 特許庁

To provide a test circuit, an integrated circuit and a testing method optimum for testing a macro block including a physical layer circuit for data communication.例文帳に追加

データ通信用の物理層回路を含むマクロブロックのテストに最適なテスト回路、集積回路、テスト方法を提供すること。 - 特許庁

Water content corresponding to optimum water-containing ratio obtained by JIS A 1210 'soil compaction testing method by stamping is added to the mixture 5 and the material is sufficiently compacted with a multiple strong tamper 7 so that the density becomes maximum dry density.例文帳に追加

この混合物に、ＪＩＳ Ａ １２１０「突固めによる土の締固め試験方法」によって求めた最適含水比に相当する水分を加えたのち、その密度が最大乾燥密度となるように多連式強力タンパーで十分突固める。 - 特許庁

Also, the yield can be improved by testing by using optimum stress applying voltage and discrimination voltage in accordance with internal generation voltage characteristics in a test method of a nonvolatile semiconductor memory in which the gate voltage of a memory cell is generated internally in read-out.例文帳に追加

また、読み出し時にメモリセルのゲート電圧が内部生成される不揮発半導体記憶装置の検査方法においては内部生成電圧特性に応じた最適なストレス印加電圧と判定電圧で検査することで歩留り向上が図れる。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which malfunction never be caused and operation can be performed with low power consumption by performing a test again and detecting optimum operation conditions for a cell being easy to be defect out of cells passing a test, and a method for testing the same.例文帳に追加

テストをパスしたセルのうち最も不良になり易いセルに対し、再びテストを行って最適の動作条件を検出することによって、誤動作せず、低消費電力で動作可能な半導体メモリ装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To measure and evaluate before formation of a thin deposition film, behaviors of a weblike plastic film under various conditions in vacuum inside a film testing machine in the weblike plastic film formed thereon with the thin deposition film by a chemical vapor deposition method(CVD) or the like, grasp the optimum film-forming condition based on a measuered result provided by the testing machine, and form the stable thin deposition film.例文帳に追加

化学気相成長法（ＣＶＤ）等により蒸着薄膜を成膜させるウェブ状プラスチックフイルムを薄膜形成前に、フイルム試験機内で真空中の各種条件下でのフイルムの挙動を測定、評価出来るようにし、該フイルム試験機で得られた測定結果を基に成膜の最適条件を把握し、安定した蒸着薄膜を形成させることを可能にすることである。 - 特許庁