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最適試験法の英語

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英訳・英語 optimum testing method


JST科学技術用語日英対訳辞書での「最適試験法」の英訳

最適試験法


「最適試験法」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 26



例文

スード試験における最適パラメータ決定方、スード試験およびスード試験装置例文帳に追加

OPTIMUM PARAMETER DECIDING METHOD FOR PSEUDODYNAMIC TEST, AND METHOD AND DEVICE FOR PSEUDODYNAMIC TEST - 特許庁

経験的データに基づく試験最適化方例文帳に追加

METHOD FOR OPTIMIZING TEST BASED ON EXPERIENTIAL DATA - 特許庁

半導体試験装置のタイミングセットの最適化方、半導体試験装置のタイミングセットの最適化プログラム、半導体試験装置例文帳に追加

OPTIMIZATION METHOD AND PROGRAM FOR OPTIMIZING TIMING SET OF SEMICONDUCTOR-TESTING DEVICE, AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR - 特許庁

弾芯消耗特性試験及びこれを用いた複合装甲構造の最適化手例文帳に追加

TEST METHOD OF BULLET CORE CONSUMPTION CHARACTERISTIC AND OPTIMIZATION TECHNIQUE USING THE SAME FOR COMPOSITE ARMORING STRUCTURE - 特許庁

掃引同調試験装置及びその最適制御設定値シミュレーション方例文帳に追加

SWEEP SYNCHRONIZATION TESTING DEVICE, AND METHOD OF SIMULATING OPTIMUM CONTROL SET VALUE THEREFOR - 特許庁

本発明の課題は、複数のIC試験を行う場合に、全IC試験項目の実行時間が短くなるように最適試験順序にてIC試験を実行することのできるIC試験装置、IC試験、及びそのIC試験を実行するためのプログラムを記憶した記憶媒体を提供することである。例文帳に追加

To obtain a device and method for testing ICs capable of executing IC tests in an optimal test sequence so as to shorten the execution time of all IC test items in the case of performing a plurality of IC tests and a storage medium in which a program for executing the IC tests is stored. - 特許庁

例文

複数の被試験半導体記憶装置に対して最適化された試験を行ない、従来の試験では救済することができず不良品と判定されたものの中から、かなりのものを救済することが可能な試験を提供する。例文帳に追加

To provide a test method by which an optimized test is performed for a plurality of semiconductor memories to be tested and considerable number of devices can be saved out of devices discriminated as defective devices which are rejected by a conventional test method. - 特許庁

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日英・英日専門用語辞書での「最適試験法」の英訳

最適試験法


「最適試験法」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 26



例文

当該システムで空いているタイミングセットを有効利用して、複数本のパターンプログラムを1本化して、無駄なアイドル期間を削除してデバイス試験のスループットを向上する半導体試験装置、タイミングセットの最適化方、タイミングセットの最適化プログラムを提供する。例文帳に追加

To unify a plurality of pattern programs using effectively a free timing set in a system, and to eliminate thereby a wasteful idle period to enhance a through-put in a device test. - 特許庁

可能性のある不具合の確率及び機械性能データの関数として、及び最適化基準を最大化するために、試験対象のセットを自動的に選択することと、試験対象のセットをデジタル・テストパターンの上に置くことと、を含む、動的テストパターン生成のための方例文帳に追加

In the method for forming a dynamic test pattern, a matter wherein a set to be tested is chosen automatically as probability of fault having capabilities and as function of machine performance data in order to maximize optimization criteria, and a matter wherein the set to be tested is mounted on a digital test pattern are contained. - 特許庁

本発明の方においては、放射線源(11)と検出器(13)と走査すべき対象(18)の代わりの試験対象(58)との少なくとも1つの同じ空間的配置の使用下で、試験投影および反復式の再構成技術によって、与えられた配置において断層撮影表示のための試験対象の投影データの最適なフィルタ処理および逆投影を与えるフィルタが決定される。例文帳に追加

In this method, under use of at least one spatial arrangement of the radiation source 11, the detector 13, and a test object 58 substituted for a subject 18 to be scanned, a filter for providing optimum filter processing and back projection of the projection data of the test object for tomographic image display in a given arrangement and by means of repeated reconstruction technique and test projection is determined. - 特許庁

所定温度をばらつき少なく検出し、検出された所定温度に応じて動作状態を最適化する温度検出機能を備えた半導体装置、試験、及びリフレッシュ制御方を提供することを目的とすること例文帳に追加

To provide a semiconductor device provided with temperature detection function detecting the prescribed temperature with less dispersion and optimizing an operation state in accordance with the detected prescribed temperature, a test method, and a refresh-control method. - 特許庁

高精度に試験片の変形量を計測するためのピーニング強度測定方を提供し、ピーニングの際の最適なピーニング強度の条件出しを行う。例文帳に追加

To provide a peening intensity measuring method for measuring the deformation quantity of a test piece with high accuracy to set conditions for optimum peening intensity in peening. - 特許庁

ポリエステル布地については、試験を行った5種類のリパーゼのうち4種が、レギュラーポリエステルの繊物の水湿潤性と吸水性を、最適条件下でのアルカリ加水分解以上に改善した。例文帳に追加

Four out of the five lipases studied improve the water wetting and absorbent properties of the regular polyester fabric more than alkaline hydrolysis under optimal conditions. - 特許庁

燃料の消費を伴わず、大掛かりな発電試験装置を用いずに電極の濡れ性を最適化することができる燃料電池スタックの初期化方を提供する。例文帳に追加

To provide an initialization method of a fuel cell stack capable of optimizing wettedness of an electrode without using a large-scale power generation testing device, without involving consumption of fuel. - 特許庁

例文

微細試験片をナノ領域まで条件変化をさせながら成形し、隋時ナノ領域までの物性を、自動的に最適制御しながら測定する方及び測定機例文帳に追加

METHOD AND MEASURING MACHINE FOR FORMING FINE TEST PIECE WITH CONDITION CHANGE TO NANO DOMAIN AND MEASURING PROPERTY TO NANO DOMAIN AT ANY TIME WITH AUTOMATIC OPTIMUM CONTROL - 特許庁

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「最適試験法」の英訳に関連した単語・英語表現
2
quasi‐optimal test system JST科学技術用語日英対訳辞書


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